HQT-IA多層鎳型微電腦多功能電解鍍層測厚儀是新一代的金屬鍍層電解測厚儀,該儀器是根據(jù)電化學中的庫侖定理(Q=nF)與現(xiàn)代微電腦技術結合的產物,具有結構,性能穩(wěn)定,功能的特點。對多數(shù)非合金型的金屬鍍層厚度的測定適用,是國際標準中推的一種測厚方法---庫侖法類儀器。使用本儀器還可以幫助用戶找到適合不同要求的電鍍工藝,是有關成品廠及電鍍廠備的儀器。本產品榮獲輕工部科技成果三等獎。
【HQT-IA多層鎳型微電腦多功能電解鍍層測厚儀-技術參數(shù)】
◆測量原理:利用與鍍層、基材相對應的電解液、在的電流所溶解的硬度和時間成正比,來測定膜厚的一種測量方(卻運用電化學中的庫侖法來測定膜厚);測量電位差是利用不同鎳層之間的電位差異來反映各層鎳的厚度及層間電位差
◆可測定材料:可被電解液所電解金屬鍍層,如:鋼、鎳、鉻、鋅、銀、金、錫等及多層鎳的層間電位差
◆測量范圍:0.03微米~99.99微米,電位差:-100mV~+400mV
◆準確度:厚度為&plun;10%,電位差為&plun;5%
◆復現(xiàn):<5%
◆測量質表示:LED4位顯示,其中兩位為小數(shù)。打印輸出四位數(shù)字,其中兩位為小數(shù);繪圖儀輸出電位差曲線,繪圖儀輸出的圖形是X軸代表電位(mv),Y軸代表厚度(微米um)的座標軸上顯示的比例曲線
◆測量面積:A橡皮墊圈-直徑2.5mm,B皮墊圈-直徑1.7mm
◆性能特點:操作簡便,復現(xiàn)性好,可測量單層,復合型電鍍,具有內置微電腦,通過微電腦處理,直觀顯示各層厚度及電位差
【HQT-IA多層鎳型微電腦多功能電解鍍層測厚儀-標準配置】
◆主機、電解池、測量架、橡皮墊圈、標準樣板、打印紙及支架、試劑瓶等。