擁有檢定量塊的研合性和不平度,以及儀器和量具的測(cè)量面,工作面的不平度,也用于檢定高的平面件:(單位:個(gè))
φ30(0.03μm)
φ45(0.03μm)
φ60(0.03μm)
φ80(0.05μm)
φ100(0.05μm)
φ150(0.05μm)
φ200,φ250,φ300
用于檢定千分尺,杠桿千分尺,杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具的測(cè)量面的不平度和兩相對(duì)測(cè)量面的不平行度:(單位:組/套)
組一:15.62,15.75,15.87,16.00(0.6μm)
組二:40.62,40.75,40.87,41.00(0.6μm)
組三:65.62,65.75,65.87,66.00(0.8μm)
組四:90.62,90.75,90.87,91.00(1.0μm)。