PTQ-8晶體管綜合快速篩選臺具有對半導體器件常溫測試，高溫熱測（不需要外加烘箱），熱敏參數(shù)的快速篩選取代直流滿功率老煉三大功能，并可任意選用及組合使用。晶體管熱敏參數(shù)的快速篩選技術(shù)，是采用在短時間內(nèi)（一般為數(shù)秒）對晶體管施加穩(wěn)態(tài)額定功率的辦法，使晶體管的結(jié)溫接近或允許結(jié)溫TjM，通過快速檢測晶體管熱敏參數(shù)VBE、ICEO（或ICBO）和hFE，及其在加功率前后的變化量、變化率△VBE、ICEOH和△hFE％，并以此為失效判據(jù)參量，淘汰標的晶體管，剔除早期失效器件，產(chǎn)品批的質(zhì)量和性的目的，同時，所施加的穩(wěn)態(tài)額定功率模擬了被試管實際使用時可能出現(xiàn)的浪涌電壓、電流等應力，以考核被試管承受沖擊的能力。該快速篩選方法不能替代直流滿功率老煉，快速剔除有潛在缺陷的器件，而且更加科學合理，并已列為行業(yè)標準SJ／T10415—93及國軍標G128A—97.

　　PTQ—8晶體管綜合快速篩選臺已在原快速篩選儀器上作了大大改進，不但能按規(guī)定進行晶體管熱敏參數(shù)的快篩，而且可作常規(guī)直流參數(shù)測試儀器使用，具有的測試量程和，只要調(diào)用被測器件的型號，就能進入快速連續(xù)檢測。當被測器件由于穿通、二次擊穿和熱擊穿的，具有自動保護能力。