依據(jù)GB/T 13452.2-92、ISO 2808-1984設(shè)計制造。是利用千分表刻度盤指示被測物的厚度以µm表示。
適用于測量磁性、非磁性物體上涂層膜層厚度。漆膜須硬到經(jīng)受住與千分尺卡頭緊密接觸時而無壓痕。
設(shè)備儀器：
?。?）測厚儀：2µm，重復(fù)性高
?。?）千分表每年需經(jīng)省市法定計量部門鑒定。
適用于測量磁性、非磁性物體上涂層膜層厚度。漆膜須硬到經(jīng)受住與千分尺卡頭緊密接觸時而無壓痕。
設(shè)備儀器：
?。?）測厚儀：2µm，重復(fù)性高
?。?）千分表每年需經(jīng)省市法定計量部門鑒定。
