高薄膜測厚儀，厚度測試儀 CHY-C2測厚儀采用機械式測量方法，適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的厚度測量。合GB 6672（塑料薄膜和薄片厚度的測定--機械測量法）、GB/T 451.3-2002（紙和紙板厚度的測定）、GB/T 6547、ASTM D645、AT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等測試標(biāo)準。
薄膜測厚儀技術(shù)指標(biāo)
測量范圍：0～2mm（常規(guī)）（0～6mm可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10次/min（可調(diào)）
測量壓力：17.5&plun;1kPa（薄膜）；〔50&plun;1kPa（紙張）〕
接觸面積：50mm2（薄膜）；〔200mm2（紙張）〕
薄膜測厚儀技術(shù)指標(biāo)
測量范圍：0～2mm（常規(guī)）（0～6mm可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10次/min（可調(diào)）
測量壓力：17.5&plun;1kPa（薄膜）；〔50&plun;1kPa（紙張）〕
接觸面積：50mm2（薄膜）；〔200mm2（紙張）〕
