D-30型放射性測(cè)量?jī)x
　　D-30型放射性測(cè)量?jī)x高、低本底放射性測(cè)量?jī)x就弱放射性樣品進(jìn)行測(cè)量與分析，被測(cè)樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為f30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器，干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于地質(zhì)勘測(cè)、地質(zhì)調(diào)查、醫(yī)院、疫站、礦山、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總a放射性活度，具有弱放射性測(cè)量?jī)x功能：
　　探測(cè)器：金硅面壘f30 mm，
　　    儀器本底：≤2cph.
　　    探測(cè)效率：≥36%（2π，239Pu源）
　　    計(jì)數(shù)容量：
　　    定時(shí)測(cè)量：定時(shí)時(shí)間在1—9999min內(nèi)可選擇設(shè)置
　　    測(cè)量范圍：5*10-q/kg--5*106Bq/kg
　　    靈敏度：5＆＃8226；10-4cpm/Bq/kg
　　    穩(wěn)定性：≤5%
　　    準(zhǔn)確性：≤±5％
　　    功耗：：≤200mW；≤600mW
　　    使用條件：溫度-5℃＆＃12316；50℃；濕度≤95%（40℃）
　　    供電電源：6v蓄電池，充電可工作12小時(shí)
　　放射性測(cè)量?jī)x