產(chǎn)品特點(diǎn)：
　　
　　高分辨率探測器：美國原裝電制冷Si-PIN探測器，配套原裝數(shù)字式多道脈沖幅度分析器，檢測結(jié)果和分析速度遠(yuǎn)比國內(nèi)采用線性放電法（模擬）多道分析器精準(zhǔn)和快速。
　　
　　精密穩(wěn)定的高壓電源：采用工業(yè)級X射線熒光分析的精密高壓電源，為X射線光管提供長時間的穩(wěn)定高壓。
　　
　　低功率X射線光管：采用W／Rh靶X射線管，風(fēng)扇制冷，設(shè)計(jì)壽命5萬小時。
　　
　　高像素?cái)z像頭：內(nèi)置高清攝像頭以及微動樣品移動裝置，方便對樣品掃描區(qū)域的實(shí)時準(zhǔn)確定位和觀察。
　　
　　的X射線護(hù)體系：采用電源開關(guān)鎖、精密樣品蓋開合檢測等裝置X射線的泄漏，操作人員的。
　　
　　樣品腔：采用的“山”字形設(shè)計(jì)樣品腔與儀器接合，精密科學(xué)計(jì)算儀器外殼厚度，選擇重量與平衡點(diǎn)，既儀器使用的，也減輕儀器重量。
　　
　　采用新型濾光片：的降低X射線熒光本底，檢測靈敏度。光學(xué)準(zhǔn)直器，光束小直徑達(dá)0.025mm，集中X射線光束，增強(qiáng)熒光強(qiáng)度，對微量元素的檢測以及鍍層的分析。
　　
　　的光譜分析方法：緊跟國際前沿的X射線光譜分析方法，科學(xué)的對光譜進(jìn)行元素定性、定量分析。由于采用了復(fù)雜的計(jì)算、校正算法，程度上減少了定量分析需要的標(biāo)樣，這在同行中處于。通過改進(jìn)硬件，Pb、Cd等的檢測靈敏度2倍。
　　
　　無標(biāo)樣分析：真正意義上實(shí)現(xiàn)標(biāo)樣的含量、鍍層分析。對于含量分析，高含量元素相對誤差范圍可控制在1％以內(nèi)；對于鍍層分析，厚度相對誤差范圍可控制在10％以內(nèi)。
　　
　?。儗雍穸确治觯哼x用的功能模塊實(shí)現(xiàn)對鍍層厚度的分析，使用戶無需添加額外硬件即可進(jìn)行鍍層厚度分析?！　?
　　
　　技術(shù)指標(biāo)基本參數(shù)
　　探測器 145eV FWHM＠5.9keV 外型尺寸 650 X 520 X 475 mm
　　穩(wěn)定度小于 0.05％樣品腔 18 X 490 X 320 mm
　　測量對象固體、液體、粉末輸入電壓 AC 220V／50HZ
　　測量時間 60-300s 功耗 260W
　　元素范圍硫（S）-鈾（U）重量 48Kg
　　檢測下限 2ppm 工作溫度 20-30℃
　　含量范圍 2ppm-99.99％工作濕度 40-70％
　　X光管壓 1-50KV
　　X光管流 1-1000 A