比表面積分析儀V-Sorb 2800是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動(dòng)智能化比表面積和孔徑檢測儀器，采用靜態(tài)容量法測量原理，眾多科研院所及企業(yè)應(yīng)用，相比國內(nèi)同類產(chǎn)品，金埃譜比表面積分析儀多項(xiàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善，金埃譜比表面積分析儀測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步，金埃譜比表面積分析儀測試過程的穩(wěn)定性更強(qiáng)，金埃譜比表面積分析儀國際同類產(chǎn)品水平，部分功能國外產(chǎn)品。
　　
　　金埃譜科技是國內(nèi)早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu)，測試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性，并獲取機(jī)構(gòu)的檢測證書，同時(shí)金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模，通過ISO9001的企業(yè)，雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系，讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂！
　　
　　全自動(dòng)靜態(tài)容量法比表面積分析儀性能參數(shù)
　　
　　測試方法及功能：氮吸附真空容量法（真空靜態(tài)法），吸附及脫附等溫線測定，BJH總孔體積及孔徑分布分析，樣品真密度測定，t-plot圖法微孔分析，MP法微孔分析，BET法比表面積測定（單點(diǎn)及多點(diǎn)），Langmuir法比表面積測定，平均粒徑估算，t−plot圖法外比表面積測定；
　　
　　測定范圍：0.01（㎡／g）--至無上限（比表面積），0.35nm-400nm（孔徑）；
　　測量：重復(fù)性誤差小于1.5％；
　　真空系統(tǒng)：V-Sorb的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng)，大大減小管路體積空間，檢測吸附氣體微量變化的靈敏度，從而孔徑分布測定的分辨率；同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn)，大大密封性和儀器使用壽命；
　　液位控制：V-Sorb的液氮面控制系統(tǒng)，測試液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變，因體積變化引入的測量誤差；
　　
　　控制系統(tǒng)：采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng)，高集成度和干擾能力，儀器穩(wěn)定性和使用壽命；
　　樣品數(shù)量：同時(shí)進(jìn)行2個(gè)樣品分析和2個(gè)樣品脫氣處理；
　　壓力測量：采用原裝壓力傳感器測量壓力，顯著 P／Po點(diǎn)的測試，0-1000Torr（0-133Kpa）；
　　壓力：硅薄膜壓力傳感器，達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15％，全量程的0.15％，遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)（一般誤差為10％-15％）；
　　
　　分壓范圍：P／Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10−6−0.995；
　　限真空：4x10−2Pa（3x10−4Torr）；
　　樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等；
　　測試氣體：高純N2氣（99.999％）或其它（按需選擇如Ar，Kr）；
　　數(shù)據(jù)采集：高及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊，誤差小，干擾能力強(qiáng)；
　　數(shù)據(jù)處理：Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件，功能完善，操作簡單，多種模式數(shù)據(jù)分析，圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表。
　　
　　金埃譜科技---比表面積分析儀，比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積測定儀國產(chǎn)實(shí)現(xiàn)真正自動(dòng)化智能化測試技術(shù)的開拓者和者，多項(xiàng)技術(shù)已成為業(yè)內(nèi)廠商仿效。