JW-BK112型比表面及孔徑分析儀
　　精微高博是比表面及孔徑分析儀具的廠商，精微高博比表面及孔徑分析儀一并榮獲中國(guó)計(jì)量院測(cè)試證書，ISO9001及CE并且還有的產(chǎn)品是通過(guò)高新技術(shù)企業(yè)
　　精微高博比表面及孔徑分析儀經(jīng)技術(shù)鑒定，控制和測(cè)試國(guó)際水平，已在國(guó)內(nèi)普遍應(yīng)用。
　　
　　比表面及孔徑分析儀功能
　　比表面測(cè)定：BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，Langmuir比表面，外表面測(cè)定；
　　BJH孔徑分布測(cè)定：總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；
　　微孔常規(guī)分析：微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D＆R、MP等）
　　真密度測(cè)試
　　
　　比表面及孔徑分析儀技術(shù)參數(shù)
　　比表面及孔徑分析儀原理方法：低溫氮吸附，靜態(tài)容量法
　　比表面及孔徑分析儀吸附氣體：高純氮?dú)?，也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
　　比表面及孔徑分析儀限真空：4-6.7×10-2Pa（3-5×10-4　Torr）
　　比表面及孔徑分析儀氮?dú)夥謮海?×10-5–0.995
　　比表面及孔徑分析儀控制：測(cè)試壓力點(diǎn)小控制間隔可小于0.1　KPa（0.75　Torr），可測(cè)上千個(gè)點(diǎn)。
　　比表面及孔徑分析儀測(cè)試范圍：比表面≥0.01　M2/g，無(wú)規(guī)定上限
　　孔徑　0.35-400　nm
　　比表面及孔徑分析儀測(cè)試：≤±2%
　　比表面及孔徑分析儀測(cè)試效率：多點(diǎn)BET比表面每樣平均20min
　　孔徑分析時(shí)間隨不同材質(zhì)各異
　　比表面及孔徑分析儀預(yù)處理：兩樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃
　　比表面及孔徑分析儀軟件：BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等
　　
　　真密度測(cè)試：重復(fù)性0.02%
　　
　　比表面及孔徑分析儀特色
　　◎比表面儀具有業(yè)內(nèi)通過(guò)技術(shù)鑒定產(chǎn)品，控制和測(cè)試國(guó)際水平；
　　◎比表面儀具有的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，了測(cè)試的準(zhǔn)確性和性；
　　◎比表面儀具有的多途徑液氮面控制與校正技術(shù)，連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮；
　　◎比表面儀具有有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫(kù)和規(guī)范的分析方法，微孔常規(guī)測(cè)試技術(shù)國(guó)內(nèi)；
　　◎比表面儀具有軟件功能、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品吸、脫附壓力變化及平衡過(guò)程；
　　◎比表面儀具有實(shí)驗(yàn)自動(dòng)化、智能化控制，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可以無(wú)人職守；
　　
　　靜態(tài)容量法比表面測(cè)試儀特點(diǎn)之真密度測(cè)試：
　　技術(shù)參數(shù)：
　　JW-BK系列靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀，適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析，的高真密度測(cè)試功能，測(cè)試時(shí)間不過(guò)3分鐘/次，連續(xù)測(cè)試次數(shù)用戶可以自行定義，次數(shù)可達(dá)10次。
　　★重復(fù)性：±0.015%；
　　★度：±0.02%；
　　★測(cè)試分辨率：0.00001　g/cm3。