利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，過程和質(zhì)量控制。
X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
分析：無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)的技術和性，每年都帶來收益
操作簡單，要簡單的培訓
分析三步驟
杰出的分析準確性和性
在鍍層測厚領域擁有過20年的
使用大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，質(zhì)量的同時降。
X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
分析：無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)的技術和性，每年都帶來收益
操作簡單，要簡單的培訓
分析三步驟
杰出的分析準確性和性
在鍍層測厚領域擁有過20年的
使用大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，質(zhì)量的同時降。
