Windows Mobile5.0操作系統(tǒng)
開機后不需校準就可直接測量
采用布魯克技術(shù)的XFlash?SDD檢測器
分析元素小從Mg開始,達40多種。
分析范圍:ppm級至50%以上(與礦樣種類有關(guān))
實時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣
測量,不受樣品形狀限制
儀器自動校準,自動存儲測量數(shù)據(jù),無需人工干預
主機一體化設(shè)計,度密封,水、塵,沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內(nèi)置Bruker操作軟件,計算和顯示速度快
儀器適應高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機狀態(tài)下長時間不測量時,儀器會自動進入待機狀態(tài),以節(jié)省電源和保護儀器
X射線管耐用,采用Peltier半導體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng),可定位礦置并繪制礦脈分布圖
FP模式,適于各種礦石樣品,大大縮短現(xiàn)場工作時間。自動補償元素間干擾。
軟件升級