1.主機(jī)采用數(shù)字化面板設(shè)計(jì),管流、管壓、樣品位置、真空度等參數(shù)面板直接顯示,可以根據(jù)分析元素種類(lèi)不同軟件自動(dòng)調(diào)整參數(shù)。
2.采用X光管激發(fā)樣品,激發(fā)待測(cè)元素,韌致輻射型,Be(鈹)窗厚200μm,靶材Rh(銠靶)。真空環(huán)境測(cè)量,了輕元素的激發(fā)效率和測(cè)量范圍。
3.采用量分辨率的電致冷Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,電致冷,無(wú)需液氮制冷,使用方便。探測(cè)器分辨率160eV(55Fe)。
4.多功能樣品室
樣品種類(lèi):固體、粉末、液體均可,如壓片無(wú)需添加任何試劑。
腔內(nèi)多樣品座:可以放置12個(gè)樣品,自動(dòng)控制,定位。
腔內(nèi)環(huán)境:空氣或真空。
5.高壓電源:電壓 0V-50kV連續(xù)可調(diào);電流O-lmA連續(xù)可調(diào)。數(shù)碼顯示,高,無(wú)故障操作。
6.1024道多道譜儀實(shí)時(shí)測(cè)量顯示,對(duì)樣品X光譜進(jìn)行精細(xì)分析,系統(tǒng)可自動(dòng)識(shí)別譜線,方便地了解樣品的組成。
7.可性實(shí)現(xiàn)多元素的快速、、準(zhǔn)確分析。
8.自動(dòng)穩(wěn)譜,消除譜峰漂移影響,儀器長(zhǎng)期穩(wěn)定。
9.整體設(shè)計(jì)合理,性能穩(wěn)定,運(yùn)行。
10.全中文Windows應(yīng)用軟件,操作簡(jiǎn)單。
11.分析元素:Na-U,主要是Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等,分析下限:
元素名稱探測(cè)下限(%)
Al 0.01
Si 0.01
P 0.01
S 0.01
K 0.01
Ca 0.01
Ti 0.001
V 0.001
Cr 0.001
Mn 0.001
Fe 0.001
Cu 0.001
Pb 0.001
Zn 0.001
12.分析范圍:1ppm-99.9%。
13.能量范圍:1-30keV.
14.測(cè)量時(shí)間:<200S.
15.重復(fù)性:<0.1%。
16.穩(wěn)定性:<0.01%。
17.輻射劑量:<25μsv/h.
18.軟件優(yōu)勢(shì):
WinXP界面應(yīng)用軟件,全中文操作系統(tǒng)操作。
軟件數(shù)據(jù)庫(kù)大,譜數(shù)據(jù)顯示、譜峰標(biāo)記、能量定標(biāo)、凈強(qiáng)度、預(yù)置時(shí)間等。
參數(shù)通過(guò)軟件調(diào)節(jié),數(shù)碼管自動(dòng)顯示,無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)面板。
譜處理、扣除背景、元素識(shí)別、剝離重疊譜自動(dòng)進(jìn)行。
譜峰重疊時(shí),軟件可以解譜。
軟件自動(dòng)穩(wěn)譜,消除環(huán)境變化影響。
線性擬合、基體校正、結(jié)果顯示。
19.儀器運(yùn)行費(fèi)用為?!?