UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯
配置型號(hào)
探測(cè)器
X光管
高壓電源
Ux-700 M
AMPTEK Si-PIN X-123()
上海科頤維（國(guó)產(chǎn)）
咸陽(yáng)威思曼(國(guó)產(chǎn))
Ux-700 H
AMPTEK Si-PIN X-123()
上?？祁U維（國(guó)產(chǎn)）
spellman()
Ux-700 S
AMPTEK SDD X-123()
上?？祁U維（國(guó)產(chǎn)）
spellman(
產(chǎn)品介紹：
本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量，Ux-700更小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測(cè)系統(tǒng)，眾多條件的選擇，測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用，了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的有了檢驗(yàn)的保障。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái)，可以通過(guò)鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作，選擇樣品的多點(diǎn)測(cè)試，適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測(cè)試。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備，測(cè)試樣品的部位清楚明了，同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測(cè)試部位的圖片，和測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測(cè)試中。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀采用了華唯新技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度。
產(chǎn)品指標(biāo)：
測(cè)厚技術(shù)：X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類(lèi)：金屬鍍層，合金鍍層
測(cè)量下限：0.003um
測(cè)量上限：30-50um（以材料元素判定）
測(cè)量層數(shù)：10層
測(cè)量用時(shí)：30-120秒
探測(cè)器類(lèi)型：Si-PIN電制冷
探測(cè)器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數(shù)：5-50Kv，50W，側(cè)窗類(lèi)；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：鍍層濾光片
CCD觀察：260萬(wàn)像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測(cè)試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：U2.0模式
準(zhǔn)直器：？0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開(kāi)放工作區(qū) 自定義
樣品腔：70*20mm
整機(jī)重量：38kg
鍍層測(cè)厚方法：
1.磁性涂層測(cè)厚法
使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的非導(dǎo)磁金屬和非導(dǎo)電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測(cè)厚法
可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試，同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗語(yǔ)“邁”，密耳（mil）
1um=39.4邁， 1um=0.04mil
配置型號(hào)
探測(cè)器
X光管
高壓電源
Ux-700 M
AMPTEK Si-PIN X-123()
上海科頤維（國(guó)產(chǎn)）
咸陽(yáng)威思曼(國(guó)產(chǎn))
Ux-700 H
AMPTEK Si-PIN X-123()
上?？祁U維（國(guó)產(chǎn)）
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Ux-700 S
AMPTEK SDD X-123()
上?？祁U維（國(guó)產(chǎn)）
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產(chǎn)品介紹：
本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量，Ux-700更小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測(cè)系統(tǒng)，眾多條件的選擇，測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用，了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的有了檢驗(yàn)的保障。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái)，可以通過(guò)鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作，選擇樣品的多點(diǎn)測(cè)試，適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測(cè)試。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備，測(cè)試樣品的部位清楚明了，同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測(cè)試部位的圖片，和測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測(cè)試中。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀采用了華唯新技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度。
產(chǎn)品指標(biāo)：
測(cè)厚技術(shù)：X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類(lèi)：金屬鍍層，合金鍍層
測(cè)量下限：0.003um
測(cè)量上限：30-50um（以材料元素判定）
測(cè)量層數(shù)：10層
測(cè)量用時(shí)：30-120秒
探測(cè)器類(lèi)型：Si-PIN電制冷
探測(cè)器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數(shù)：5-50Kv，50W，側(cè)窗類(lèi)；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：鍍層濾光片
CCD觀察：260萬(wàn)像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測(cè)試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：U2.0模式
準(zhǔn)直器：？0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開(kāi)放工作區(qū) 自定義
樣品腔：70*20mm
整機(jī)重量：38kg
鍍層測(cè)厚方法：
1.磁性涂層測(cè)厚法
使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的非導(dǎo)磁金屬和非導(dǎo)電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測(cè)厚法
可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試，同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗語(yǔ)“邁”，密耳（mil）
1um=39.4邁， 1um=0.04mil
其他說(shuō)明
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