產(chǎn)品介紹：
　　Ux-720新一代國產(chǎn)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量和測量結果業(yè)界。
　　采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產(chǎn)過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
　　Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節(jié)設計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
　　X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業(yè)中品質的有了檢驗的保障。
　　Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯新技術FlexFp-Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果經(jīng)得起科學驗證。
　　樣品移動設計為樣品腔外部調節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于效率。
　　設計更科學，軟硬件配合，機電聯(lián)動，輻射高于國標GBZ115-2002要求。
　　軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和登陸，測試的記錄同時自動添加測試人的登錄名稱。

　　產(chǎn)品指標：
　　測厚技術：X射線熒光測厚技術
　　測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
　　測量下限：0.003um
　　測量上限：30-50um（以材料元素判定）
　　測量層數(shù)：10層
　　測量用時：30-120秒
　　探測器類型：Si-PIN電制冷
　　探測器分辨率：145eV
　　高壓范圍：0-50Kv，50W
　　X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側窗類；
　　光管靶材：Mo靶；
　　濾光片：3種自動切換；
　　CCD觀察：260萬像素
　　微移動范圍：XY15mm
　　輸入電壓：AC220V，50/60Hz
　　測試環(huán)境：非真空條件
　　數(shù)據(jù)通訊：U2.0模式
　　準直器：？1mm，？2mm，？4mm
　　軟件方法：FlexFP-Mult
　　工作區(qū)：開放工作區(qū)自定義
　　樣品腔：330×360×100mm
　　標準配件
　　樣品固定支架1支
　　窗口支撐薄膜：100張
　　保險管：3支
　　計算機主機：品牌＋雙核
　　顯示屏：19吋液晶
　　打印機：噴墨打印機
　　可選配件
　　可升級為SDD探測器
　　可以實現(xiàn)全自動一鍵操作功能，準直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試自動彈出，供應商信息自動篩選和保存?！?