銅箔厚度測(cè)試儀是檢驗(yàn)覆銅板銅箔厚度的標(biāo)準(zhǔn)儀器，是工廠采購(gòu)、倉(cāng)庫(kù)發(fā)貨、制程檢驗(yàn)、QC抽檢備的儀器，本公司CM-Y001型號(hào)的銅箔銅測(cè)試儀是一種手持式/便攜式的銅箔測(cè)量工具，尺寸小、重量輕，攜帶方便，電池為常規(guī)型9V電池，可自由攜帶至車間、客戶工廠、供應(yīng)商工廠等任何一個(gè)地方針對(duì)產(chǎn)品銅箔厚度進(jìn)行測(cè)量確認(rèn)，更好地了生產(chǎn)和出貨的品質(zhì)及良品率；

         本公司的銅箔厚度測(cè)量?jī)x有兩種規(guī)格，分別為9檔（CM-Y001）和5檔（CM-Y002），其測(cè)量范圍為9檔可測(cè)量公制：12μm、17μm、35μm、53μm、70μm、 88μm、105μm、140μm、175μm，英制：1/3 OZ、1/2 OZ、1 OZ、1.5 OZ、2 OZ、2.5 OZ、 3 OZ、 4 OZ、5 OZ，而5檔可測(cè)量公制：12μm、17μm、35μm、53μm、70μm，英制：1/3 OZ、1/2 OZ、1 OZ、1.5 OZ、2 OZ，電子為6F22 9V層疊電池，整機(jī)體積: 120mm×60mm×22mm，整機(jī)重量為200克，產(chǎn)品采用雙觸腳（4針）接觸式測(cè)量，測(cè)量范圍為廣泛，而顯示方式為為簡(jiǎn)便的LED燈高亮度顯示，電池壽命更，本公司的銅箔厚度測(cè)量?jī)x系臺(tái)灣開(kāi)發(fā)研制，測(cè)試精準(zhǔn)，產(chǎn)品經(jīng)各種嚴(yán)格測(cè)試，經(jīng)久耐用，外觀美觀大方；

          銅箔測(cè)試儀又名銅箔厚度測(cè)試儀、銅箔厚度分級(jí)測(cè)量?jī)x、銅厚測(cè)試儀、銅箔測(cè)量?jī)x等。          

使用方法： 

         先按住銅箔測(cè)試儀后蓋下部的電池蓋用力滑下，裝上電池，蓋上后蓋后，按產(chǎn)品正面的電源開(kāi)關(guān)ON鍵，電源指示燈隨即亮起；將產(chǎn)品底部的雙觸腳（4探針）對(duì)準(zhǔn)銅箔表面，輕輕的水平按下，當(dāng)觸腳與銅箔表面接觸后，會(huì)有一LED燈亮起，讀取此LED燈旁邊的數(shù)據(jù)，即為此銅箔的厚度值；

         測(cè)量完畢后，請(qǐng)將銅箔厚度測(cè)量?jī)x平穩(wěn)放入儀器盒中或放置于其它水平物件上，并避免與其他物件碰撞或摩擦，以免損毀。

 注意事項(xiàng)：

         使用銅箔厚度測(cè)試儀前，請(qǐng)將待測(cè)覆板或半成品線路板表面用干凈抹布擦拭干凈，并檢查是否有臟物、油污等，以測(cè)量無(wú)誤；

         使用本儀器測(cè)量銅箔厚度時(shí)，為邊緣效應(yīng)的產(chǎn)生，測(cè)量時(shí)請(qǐng)保持銅箔測(cè)試儀的雙觸腳距離物件邊緣5CM以上，以測(cè)量的準(zhǔn)確性；

         測(cè)量過(guò)程中若出現(xiàn)測(cè)量錯(cuò)誤，請(qǐng)檢查電池是否老化，如電源指示燈變暗請(qǐng)立即更換電池，降低因電壓不足形成的測(cè)量誤差；

         本公司的銅箔厚度測(cè)量?jī)x保修一年，如出現(xiàn)故障無(wú)法排除時(shí)，切勿拆開(kāi)修理，請(qǐng)寄本司服務(wù)部處理。

應(yīng)用領(lǐng)域：

         可測(cè)試剛性線路板、柔性線路板及其線路板表面的銅箔厚度，適用于銅箔制造商/貿(mào)易商、線路板覆銅板制造商/貿(mào)易商、線路板制造商等。

產(chǎn)品規(guī)格：  

工作原理： 

         目前市場(chǎng)上的主流銅箔厚度測(cè)試儀有聲波測(cè)厚儀與渦電流測(cè)厚儀兩大類，而本公司所銷售的CM-Y001為后者（渦電流測(cè)厚儀），其工作原理為：

1.基本原理

            渦流涂鍍層測(cè)厚儀的基本工作原理是,當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)式樣接觸時(shí),測(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng), 使置于測(cè)頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與測(cè)頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù). 即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場(chǎng)會(huì)改變測(cè)頭參數(shù),而測(cè)頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號(hào)轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測(cè)涂鍍層的厚度；

2.影響測(cè)量的原因

            (1)覆蓋層厚度大于25µm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;

            (2)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);

            (3)任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;

            (4)渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不的.

            (5)試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地;

            (6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的,粗糙度,影響;

            (7)渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭 和覆蓋層表面的污物;測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)

                  頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。