• 負(fù)載裝置中采用了的電磁力電機(jī),
從而可以自由選擇測力范圍(測力范圍廣
泛, 從0.4903mN (0.05gf) - 19810mN (2kgf)。
此外,還可以自由設(shè)置負(fù)載時間和負(fù)載
停留時間。這樣維氏硬度測量中對于壓
痕尺寸的控制的要求就可以得
到滿足。HM-200 系列總能根據(jù)試樣的材
料和形狀提供合適的測力。
• 除了進(jìn)行維氏硬度測量外,還可對陶瓷進(jìn)
行斷裂韌度測量(IF 測試 :JIS R 1607-1995)。
• 所使用的物鏡可在自身和試樣表面之間
保持合適的觀測距離。從而大幅度降低
在聚焦操作中試樣和物鏡之間碰撞的可
能性。
• 可以通過操作照明裝置中的可變孔徑光
闌來獲得目鏡放大倍數(shù)的對比度。這
樣就可以清楚地看到壓痕,從而減少變
動,降低測量對角線長度時的錯誤率。