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深圳市華唯計量技術(shù)開發(fā)有限公司

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經(jīng)營模式：工廠

主營產(chǎn)品：RoHS檢測光譜儀;鹵素檢測光譜儀;膜厚分析光譜儀;元素分析光譜儀;波長色散光譜儀;液相色譜儀;光譜儀

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產(chǎn)品介紹： Ux-720新一代國產(chǎn)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量和測量結(jié)果業(yè)界。采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。 Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。 X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應用，了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業(yè)中品質(zhì)的有了檢驗的保障。 Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯新技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學驗證。樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于效率。設(shè)計更科學，軟硬件配合，機電聯(lián)動，輻射高于國標GBZ115-2002要求。軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和登陸，測試的記錄同時自動添加測試人的登錄名稱。產(chǎn)品指標：測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層測量下限：0.003um測量上限：30-50um（以材料元素判定）測量層數(shù)：10層測量用時：30-120秒探測器類型：Si-PIN電制冷探測器分辨率：145eV高壓范圍：0-50Kv，50WX光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；光管靶材：Mo靶；濾光片：3種自動切換；CCD觀察：260萬像素微移動范圍：XY15mm輸入電壓：AC220V，50/60Hz測試環(huán)境：非真空條件數(shù)據(jù)通訊：U2.0模式準直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm軟件方法：FlexFP-Mult工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義樣品腔：330×360×100mm 標準配件樣品固定支架1支窗口支撐薄膜：100張保險管：3支計算機主機：品牌+雙核顯示屏：19吋液晶打印機：噴墨打印機可選配件可升級為SDD探測器可以實現(xiàn)全自動一鍵操作功能，準直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試自動彈出，供應商信息自動篩選和保存