昆山嘉瑞德電子有限公司
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經(jīng)營模式：工廠
主營產(chǎn)品：muRata測試線和村田射頻頭;NI GPIB卡;康泰克GPIB卡;GPIB線;手機RF測試線;手機測試卡;muRata射頻線;RF測試頭;3G手機測試卡;WCDMA手機測試卡;高頻測試探針;村田高頻測試探針;廣瀨測試頭;IPX連接器;IPX連接線;HRS連接器;HRS連接線;村田手機測試線;IPHONE ipad 周邊配件;熱壓機鈦壓頭
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G手機測試卡,支持G/DCS/PCN, G測試卡是專門為G手機（ME）造制商用于生產(chǎn)目的而研制的。它具有質(zhì)量，壽命長，遵從G標準的特點。
下面，從技術(shù)角度說明它的特性：
采用國際半導體廠商生產(chǎn)的芯片，3V/5V兼容5-6觸點兼容設(shè)計，適合手機.
配以COS系統(tǒng)，遵從G對手機，SIM卡的各項規(guī)范的半導體硅襯，卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（G標準為4牛頓／每平方米）適合工業(yè)化生產(chǎn)線使用
采用長壽命EEPROM，讀寫次數(shù)在10萬次以上。（G標準只要求3萬次，按一般生產(chǎn)線測量要求，每部手機的讀寫次數(shù)為10次，可測一萬部手機。）
芯片保護層，卡片，電子攻擊。耐壓6.5V以上卡片涂層，靜電（D），水（48小時浸泡試驗）卡體材料（ABS混合高溫PVC），，45度可正常工作4小時以上。75度溫度沖擊試驗.
