| 品牌 | 益和 | 類型 | 電子測(cè)量 |
| 型號(hào) | 8681 -8681N -8681FA -8688 -8986 | 測(cè)量 | &plun;1% |
| 測(cè)量范圍 | 單雙邊線材測(cè)試 | 尺寸 | 425 x 190 x 350mm |
1500V測(cè)試電壓 |
可測(cè)512測(cè)試點(diǎn) |
系統(tǒng)可自動(dòng)掃描自動(dòng)找點(diǎn) |
提供先進(jìn)的瞬間短斷路/導(dǎo)通測(cè)試 |
可作線材單邊測(cè)試/絕緣測(cè)試 |
提供 320x240 解析度圖形液晶顯示 |
線性與安規(guī)測(cè)試一應(yīng) |
可程式化連續(xù)測(cè)試 |
提供多種介面，可作各種不同之應(yīng)用 |
系統(tǒng)提供統(tǒng)計(jì)與列印功能 |
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-8681系列線材綜合測(cè)試儀 | ||
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| 產(chǎn)品特點(diǎn)： | ||
| ． 1000Vdc/500Vac 測(cè)試 | ||
| ．自動(dòng)掃描找點(diǎn) | ||
| ．單邊線材測(cè)試 | ||
| ．瞬間短段路測(cè)試 | ||
| ．大型 320x240 LCD 顯示 | ||
| ．可程式化測(cè)試設(shè)定 | ||
| ．統(tǒng)計(jì)及列印功能 | ||
| 技術(shù)規(guī)格： | ||
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 號(hào) 測(cè)試範(fàn)圍 | |
| 電阻 | R 0.01Ω~1MΩ | |
| 電容 | C 10pF~500μF | |
| 二極體測(cè)試 | D 0~7V | |
| 導(dǎo)通 | COND 0.1Ω~50Ω | |
| 絕緣 | IR 1MΩ~500MΩ | |
| 高壓 (漏電流) | I.L. 0.01mA~5mA | |
| 斷/短路 | O/S 2/5/10/20/50kΩ | |
| 單邊/點(diǎn)測(cè) | 有 | |
| 瞬間斷/短路測(cè)試 | INT 有 | |
| 斷短路端點(diǎn)判斷 | 有 | |
| 進(jìn)階功能 | 可程式連續(xù)測(cè)試 | |
| 自動(dòng)學(xué)習(xí)自動(dòng)找點(diǎn) | ||
| 自我診斷 | ||
| 自我校正歸 | ||
| 基本精準(zhǔn)度 | &plun;1% | |
| 測(cè)試掃描模式 | 自動(dòng)/手動(dòng) 可切換 | |
| 量測(cè)頻率與訊號(hào)/電壓 | 100~100kHz, 1Vac | |
| 低電壓良測(cè)訊號(hào) | 5Vdc / 50mA max. &plun;5% | |
| 高壓(絕緣)測(cè)試 | 200~1000Vdc. &plun;5% / 100~500Vac. &plun;5%(FA機(jī)種) | |
| 量測(cè)接點(diǎn) | 128 量測(cè)接點(diǎn) (可選購(gòu)256點(diǎn)) | |
| Hipot Calibration +/- Output | ||
| Auto Pin Search Jack | ||
| 面板按鍵 | Syskey / Fastkey / Editkey | |
| I/O 介面 | RS-232 Port | |
| Printer Port | ||
| Remote Control Port | ||
| 記憶體 | 內(nèi)建512KB | |
| 電源輸入 | 115/230Vac 60/50Hz &plun; 10% Switchable | |
| 配件 | 自動(dòng)找點(diǎn)探針 | |
| 治具排線 | ||
| 使用手冊(cè) | ||
| 電源線 | ||
| Remote Control Cable (選購(gòu)) | ||
| RS-232 Cable (選購(gòu)) | ||
| 操作環(huán)境 溫溼度 | 15°C~35°C. RH≦75% | |
| 尺寸 (WxHxD) | 425 x 190 x 350mm | |
| 重量 | 14kgs | |
| 線材規(guī)格要求 | 1μF Max. | |
| 訂購(gòu)代號(hào) | ||
| -8681N | Cable Tter (200~700Vdc) | |
| -8681F | Cable Tter (100~1000Vdc) | |
| -8681FA | Cable Tter (200~700Vdc/100~500Vac) | |
| /C2 | 256測(cè)試點(diǎn) |
