Fluke Ti200熱像儀|福祿克TI200|熱成像儀TI200 技術(shù)特征:
Fluke Ti200是業(yè)內(nèi)利用激光測距的高技術(shù)實現(xiàn)快速、精準對焦,在任何情況下都可以輕松捕獲被測目標,從而呈現(xiàn)一貫圖像
詳細的技術(shù)指標 | |
溫度 | |
溫度測量范圍(-10°C 以下未校準) | -20 °C 至 +650 °C |
溫度測量 | ± 2 °C 或 2 % (處于 25 °C 額定溫度時,取較大值) |
屏顯發(fā)射率校正 | 是(根據(jù)數(shù)字和表格) |
屏顯反射背景溫度補償 | 是 |
屏顯傳輸校正 | 是 |
成像性能 | |
圖像捕獲頻率 | 刷新率:9 Hz 或 60 Hz(取決于型號) |
探測器類型 | 200 X 150 像素焦平面陣列,非致冷型微測輻射熱計 |
熱敏度 (NETD) | 30 °C 目標溫度時,≤ 0.075 °C (75 mK) |
總像素 | 30,000 |
紅外光譜帶 | 7.5 μm 至 14 μm(長波) |
可視(可見光)照相機 | 工業(yè)性能,500 萬像素 |