◆量塊是長(zhǎng)度計(jì)量的基準(zhǔn)，用于測(cè)量?jī)x器、量具和精密件的調(diào)整和校正。

◆量塊即可單件使用，也可幾塊研合在一起使用。
◆量塊的以標(biāo)準(zhǔn)溫度20℃為準(zhǔn)。
◆選用優(yōu)質(zhì)滾鉻鋼（Gr15）、碳化鎢硬質(zhì)合金（YG8）和陶瓷氧化鋯（Gro2）制造。
◆量塊具有壽命長(zhǎng)、經(jīng)久耐用、高的性、高的尺寸穩(wěn)定性、磁性和耐腐蝕性。
◆及技術(shù)條件合：ISO3650-1978；GB/T6093-2001；JI7506-1978；DIN861-1980；GGG-G-15C-1975
◆裝在鋁盒、木盒內(nèi)供貨。
◆可根據(jù)客戶需求提供散件標(biāo)準(zhǔn)量塊和規(guī)格的量塊。

量塊測(cè)量指南：
1、使用量塊時(shí)需要遵守以下要求：a．使用盡可能少的量塊獲得所需尺寸；b．盡可能地選用厚量塊；c．先選次要數(shù)值，再選主要數(shù)值。
2、使用合適的工具清潔量塊。
3、檢測(cè)毛刺。
使用光學(xué)平晶步驟如下：a．清潔測(cè)量面。b．使光學(xué)平晶與測(cè)量面輕輕接觸。c．在測(cè)量面上緩緩滑動(dòng)光學(xué)平晶使光學(xué)干涉條紋顯示d．在測(cè)量面上輕壓光學(xué)平晶，干涉條紋將消失。e．清去毛刺

檢測(cè)1：如果無(wú)干涉條紋，則測(cè)量面上有毛刺或灰塵。

檢測(cè)2：如果干涉條紋消失，則平面上刺。
檢測(cè)3：如果干涉條紋不消失，則緩緩移動(dòng)光學(xué)平晶;
          如果干涉條紋在測(cè)量面的同一位置，則測(cè)量面上有毛刺；如果干涉條紋在光學(xué)平晶的同一位置，則平晶上有毛刺。
4.使用少量油均勻散布于整個(gè)測(cè)量面，再擦干油跡。
  潤(rùn)滑脂、測(cè)量軸油，凡士林均可使用。
5.根據(jù)使用尺寸，使兩測(cè)量表面接觸，并研和一體。