介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz～120MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線性電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。
緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。
同樣，由測微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器：
按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。
例如：在1MHz測試頻率時，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時，要配0.1μH電感器等。
高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。
該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以測試裝置的重復(fù)性和準確性。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點：
◎ 本公司的自動Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。信號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置：
2.3.1 平板電容器片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm，±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
Q合格指示預(yù)置功能：預(yù)置范圍：5～1000
6．Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。
A/C高頻Q表是北廣精儀儀器設(shè)備有限公司
新研制的產(chǎn)品，它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號源，頻率達
60MHz/160MHz，信號源具有信號失真小、頻率、信號幅度穩(wěn)定的優(yōu)點，更了測量的性。A主電容調(diào)節(jié)用傳感器感應(yīng)，電容讀數(shù),且頻率值可設(shè)置。C主電容調(diào)節(jié)用
步進馬達控制，電容讀數(shù)更加,頻率值和電容值均可設(shè)置。A/C電容、電感、Q值、頻率、量程數(shù)字顯示，在某一頻率下，只要能找到諧振點，直接讀出電感、電容值，大大擴展了電感的測量范圍，而是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。A/C的諧振點頻率自動搜索或電容自動搜索功能，能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點，自動讀出Q值和其它參數(shù)。Q值量程可手動或自動轉(zhuǎn)換。
