XEye 擁有射線護的X射線探測器
高圖像質(zhì)量是的工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量,即使是小的缺陷區(qū)域也是檢測的關(guān)鍵。
XEye X射線探測器由德國Fraunhofer(弗勞恩霍夫)IIS實驗室開發(fā)研制,2006年8月連續(xù)7天8小時在225KV X射線輻照下連續(xù)工作運轉(zhuǎn),圖像質(zhì)量依然穩(wěn)定。XEye結(jié)合了高解析度和大成像區(qū)域 - 模塊化結(jié)構(gòu)甚至允許成像區(qū)域任意增加。
XEye系列探測器已經(jīng)成功引入許多應用。是工業(yè)應用 全天候運行得益于XEye's穩(wěn)定的圖像質(zhì)量和耐用性,應用在:
- 檢查輪胎
- 在線計算機斷層掃描
- 鑄件檢驗
- PCB檢測
- 高分辨率的計算機斷層掃描
探測器規(guī)格
像素尺寸為:
成像區(qū)域:
可以定制
幀速率:4.5 - 50 FPS
曝光時間:1毫秒 - 2秒
觸發(fā)外部觸發(fā),軟件觸發(fā),自由運行
動態(tài)范圍(約):
像素尺寸為400μm10.000: fps
7.000:1@9 FPS
5.000:1@16 fps
3.500:1@ 25 fps
像素尺寸為200μm5.000: fps
3.500:1@9 FPS
2.500:1@16 fps
像素大小為100μm2.500: fps
1.800:1@9 FPS
圖像滯后<0.1%
閃爍體PI200 DRZ高/加/標準 CAWO OG2/OG8/ OG16
可以定制
環(huán)境溫度:
電壓范圍:可達225kv,
電源:輸入230VAC輸出為24 VDC電源