美國SD公司的顆粒碰撞噪聲檢測儀用于電子元器件封裝后，對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。用來測試電器件從而電器件的性。用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。
工作原理：顆粒碰撞噪聲檢測（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一種對多余物檢驗的手段。其原理是利用振動臺產(chǎn)生一系列指定的機械沖擊和振動，通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松動，再通過頻率的振動，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移?；顒拥亩嘤辔镌诋a(chǎn)品中發(fā)生位移的過程，是多余物相對產(chǎn)品殼體的滑動和撞擊的一個隨機組合過程。在這個過程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。這兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播并形成混響信號，這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后，經(jīng)前置放大器放大，位移信號由檢測裝置的主機采集、處理并顯示。檢測人員可以依據(jù)顯示的信號波形判定出信號性質(zhì)，以此得出檢測結(jié)論。
選型說明：每種型號的顆粒碰撞噪聲檢測儀都包括：控制器，振動臺，傳感器，靈敏度測試單元，軟件，示波器，電纜，耗材及相關(guān)文件。其型號選擇主要根據(jù)被測件的重量和外型尺寸而定，我們的標準配置采用的是M230振動臺可測負載重量，全頻率范圍內(nèi)為400克，換能器臺面直徑為22mm~150mm，換能器因在其中心區(qū)域50%面積處靈敏度，故實際臺面選擇時換能器面積要略大于被測件扁平面面積。
產(chǎn)品型號：4511A（22mm臺面）4511L（50mm臺面）4511M（100mm臺面）4511M6（150mm臺面）4511L-R及4511M-R（寬脈沖）
設(shè)備用途：用于電子元器件封裝后，對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。用來測試電器件從而電器件的性。
適用領(lǐng)域：用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空、航天及相關(guān)軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。
技術(shù)參數(shù)
振動規(guī)格：
頻率范圍：25至250Hz， 正弦曲線
其他振動模式：隨機限，75至400Hz平坦頻率
自動階型頻率，40至250Hz
低頻率程序：振幅保護隨頻率變化
頻率分辨率：1Hz
時間：每個程序0.1至25.5秒
時間程序分辨率：0.1秒
振幅：0.1至25.50’G’峰值，4位數(shù)顯
振幅程序分辨率：0.1’G’
重復(fù)性：0.5’G’峰值，帶反饋控制
D.U.T.載荷：350g(整個范圍)
400g在60Hz
沖擊規(guī)格：
方法：沖擊臺反饋控制
自適應(yīng)D.U.T.載荷沖擊
振幅：100至2500’G’可編程
程序分辨率：10’G’
重復(fù)性：50’G’內(nèi)
脈沖寬度：<100微秒在50%振幅下
典型的是150-200微秒在10%振幅下
沖擊延遲：沖擊脈沖下降沿時間，從25至250微秒
D.U.T.載荷：振幅隨負載輕微下降
能力500克在1000g振幅下
(可能需要改變程序值來載荷)
載荷規(guī)格：
振動臺限：800克
振動限：400克W/傳感器
沖擊限：500克（可能需要增加程序值）
電氣規(guī)格：
電源：100，120，220，240VAC+/-10% 在50/ 60 Hz可選
功耗：300瓦
額定功率放大：動態(tài)加載100w RMS
