x-ray膜厚儀（膜厚測(cè)試儀）只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

X-RAY鍍層膜厚儀 在技術(shù)上一直以來(lái)都于全世界的測(cè)厚行業(yè),X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x能夠測(cè)量包含原子序號(hào)17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。
A：區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定多4層及24種元素。
B ：度于世界，到0.025mil
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能允許用戶自定義多媒體分析格式，以滿足您特定的分析格式要求,如在分析中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，小可達(dá)0.025 x 0.051毫米

美國(guó)BOWMAN（博曼）鍍層膜厚儀應(yīng)用范圍較廣的標(biāo)準(zhǔn)型鍍層厚度測(cè)量?jī)x 分析:詳述.元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管?探測(cè)器硅PIN檢測(cè)器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測(cè)量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素，應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個(gè)領(lǐng)域.
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