- 產(chǎn)品品牌：
- DAGE
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- XD7600NT-CT
英國(guó)DAGE公司 X光測(cè)試儀設(shè)計(jì)滿足PCB和半導(dǎo)體工業(yè)的增長(zhǎng)需求，用戶可以輕松獲取高質(zhì)量、高放大倍數(shù)和高分辨率下的被測(cè)物任何方位的圖像。由于采用開(kāi)管（Open Tube）技術(shù)，在放大倍數(shù)方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了采用閉管（Closed Tube）技術(shù)的X光檢測(cè)儀達(dá)到亞微米級(jí)，能滿足客戶更高的需求。
觀察右下方的照片，你可以對(duì)該儀器在PCB和半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用有一個(gè)大概的了解。在對(duì)物體需要進(jìn)行幾百甚至幾千倍的放大觀察時(shí)， 你一定需要該機(jī)器的協(xié)助！在制造業(yè)向生產(chǎn)更精巧，更密集的方向發(fā)展時(shí)，該儀器就顯得必不可少，進(jìn)一步的具體應(yīng)用，請(qǐng)與我們聯(lián)絡(luò)！
| 規(guī)格 | XiDat XD7300 | XiDat XD7500 | XiDat XD7500VR | XiDat XD7600NT |
| 尺寸(長(zhǎng)x寬x高) | 1450MM x 1700MM x 1970MM | 1450MM x 1700MM x 1970MM | 1450MM x 1700MM x 1970MM | 1450MM x 1700MM x 1970MM |
| 重量 | 1700 KG | 1900 KG | 1900 KG | 1900 KG |
| 小聚集光點(diǎn) | 1micron | 1micron | 0.95micron | 0.25micron |
| Ｘ光發(fā)射管 | 開(kāi)放管 | 開(kāi)放管 | 開(kāi)放管 | 新一代技術(shù)發(fā)射管 |
| X 射線管電壓范圍 | 30-120 KV | 30-160 KV | 30-160 KV | 30-160 KV |
| 檢測(cè)面積 | 458MM x 407MM | 458MM x 407MM | 458MM x 407MM | 458MM x 407MM |
| 板尺寸 | 508MM x 444MM | 508MM x 444MM | 508MM x 444MM | 508MM x 444MM |
| 樣本重量 | 5 KG | 5 KG | 5 KG | 5 KG |
| 電源 | 單相 200-230V/16A | 單相 200-230V/16A | 單相 200-230V/16A | 單相 200-230V/16A |
| 斜角視圖 | perpen Dicularview | 0-70°(360°全方位檢測(cè)) | 0-70°(360°全方位檢測(cè)) | 0-70°(360°全方位檢測(cè)) |
| 系統(tǒng)（幾何）放大倍率 | 700x | 1065x | 1200x | 1600x |
| 輻射安全標(biāo)準(zhǔn) | 1uSv/Hr(符合歐美標(biāo)準(zhǔn)） | 1uSv/Hr(符合歐美標(biāo)準(zhǔn)） | 1uSv/Hr(符合歐美標(biāo)準(zhǔn)） | 1uSv/Hr(符合歐美標(biāo)準(zhǔn)） |
主要特點(diǎn)：
DAGE7500 VR X光無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng) 主要特征：
• 小分辨率：950納米(0.95 微米)；
• 影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度（共140度），旋轉(zhuǎn)360度；
• 圖像采集:1.3M萬(wàn)數(shù)字CCD；
• 檢測(cè)區(qū)域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm)；
• 樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；
• 系統(tǒng)放大倍數(shù): 至5650X；
• 顯示器: 20.1"(DVI interface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
• 安全性: 在機(jī)器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等
DAGE7600 NT X 光無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
• 小分辨率: 250納米(0.25微米)；
• 影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度（共140度），旋轉(zhuǎn)360度；
• 檢測(cè)區(qū)域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm )；
• 樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444 mm ) ；
• 系統(tǒng)放大倍數(shù): 至 6500 X；
• 圖像采集: 1.3 M萬(wàn)數(shù)字CCD；
• 顯示器: 20.1"(DVI interface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x 1200 PIXELS)；
• 安全性: 在機(jī)器表面任何地方 X 光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 ……。
DAGE XD7800 VR或NT 大尺寸樣品X光無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
Dage XD7800VR或NT是專門(mén)用于大尺寸樣品的X光無(wú)損檢測(cè)的系統(tǒng)。
主要特征：
• 小分辨率: 950 納米 (0 .95 微米 )；
• 影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70 度（共 140 度），旋轉(zhuǎn) 360 度；
• 檢測(cè)區(qū)域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；
• 樣品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；
• 樣品重量: 10KG ；
• 系統(tǒng)放大倍數(shù): 至 5650 X ；
• 圖像采集: 1.3 M 萬(wàn)數(shù)字 CCD ；
• 顯示器: 20" (DVI interface) 數(shù)字彩色平板 LCD
X光檢查在PCB及半導(dǎo)體行業(yè)中被認(rèn)為是關(guān)鍵的測(cè)試步驟。在當(dāng)今的封裝設(shè)計(jì)中發(fā)現(xiàn)缺陷是非常重要的，因此，X光系統(tǒng)必須在不同的觀察角度能夠提供高分辨率、高放大倍率和高對(duì)比度的圖像。
在評(píng)定一臺(tái)X-Ray時(shí)，檢測(cè)速度的快慢和用戶友界面是否友好都是必不可少的。
DAGE XD7600 XiDAT系列X光機(jī)安裝的軟件版本為具有圖像引導(dǎo)功能的DAGE11。該軟件使用方便，具有進(jìn)行亞微米級(jí)的觀察、自動(dòng)檢測(cè)、動(dòng)態(tài)的波動(dòng)分離、圖像抓拍、友好的用戶界面等優(yōu)勢(shì)。
該設(shè)備是標(biāo)準(zhǔn)的配置，能夠提供實(shí)時(shí)的高質(zhì)量數(shù)字式的X光圖像，圖象的分辨率和灰階都有很大程度的增強(qiáng)，可達(dá)70度的傾角觀察。
