產(chǎn)品品牌：

Bruker

產(chǎn)品型號：

Dektak XT

探針式輪廓儀(臺階儀/膜厚儀) Dektak XT 布魯克 Dektak XT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供無與倫比的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于5Å。臺階儀這項性能的提高達(dá)到了過去40年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)地位。通過整合其行業(yè)產(chǎn)品，Dektak XT實(shí)現(xiàn)了性能。操作簡易，從研發(fā)到質(zhì)量控制都有更好的過程控制。整合了技術(shù)突破到第十代Dektak XT臺階儀，能夠在微電子，半導(dǎo)體，超高亮度發(fā)光二極管（LED）、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)實(shí)現(xiàn)納米級表面形貌測量。

Dektak XT 技術(shù)參數(shù)： 

1.    臺階高度重復(fù)性5Å 2.    單拱（Single-arch）設(shè)計大大提高了掃描穩(wěn)定性 3.    前置敏化器件，降低了噪音對測量的干擾 4.    新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40% 5.    64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。 6.    功能卓越，操作簡易 7.    直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行 8.    針尖自動校準(zhǔn)系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事 9.    臺階儀（表面輪廓儀）領(lǐng)域無可撼動的地位 10.  單傳感器設(shè)計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍 本公司供應(yīng)BrukerDektak XT探針式輪廓儀(臺階儀/膜厚儀)質(zhì)量保證，歡迎咨詢洽談。