QSpec科思凱系列>> 透過(guò)/反射率測(cè)試儀>>Planum-3000全自動(dòng)光學(xué)元件光譜分析儀 全自動(dòng)光學(xué)元件光譜分析儀 型號(hào)：Planum-3000 用途：用于各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜快速測(cè)量?？蛇M(jìn)行多角度相對(duì)/ 反射率、透過(guò)率測(cè)量，偏振光測(cè)量，膜性測(cè)量。 全自動(dòng)光學(xué)元件光譜分析儀-適宜測(cè)量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學(xué)性能。 操作軟件界面 全自動(dòng)光學(xué)元件光譜分析儀-技術(shù)參數(shù)： 類別 I型 II型 III型 探測(cè)器 Sony ILX511 x線形CCD 陣列 Sony ILX511 x線形CCD 陣列 Hamamatsu S7031背照式2D-CCD 檢測(cè)范圍 380-1000nm 380-1100nm 360-1100nm 波長(zhǎng)分辨率 <1.35nm <1.35nm <1.35nm 信噪比（全信號(hào)） 250：1 250：1 1000：1 相對(duì)檢測(cè)誤差 <0.6%(400-800nm) <0.6%(400-800nm) <0.2%(400-800nm) 操作方式 手動(dòng) 電動(dòng) 電動(dòng) 角度分辨率 0.1 º <0.0002º <0.0002º 重復(fù)定位： - <0.005 º <0.005 º 旋轉(zhuǎn)速度: - 25 º/s 25 º/s