- 產(chǎn)品型號：
- CSK-IA
材質(zhì)：碳鋼
尺寸：300mmL*100mmW*25mmT
主要用于：
1)R100測定斜探頭的入射點和前沿長度
2)50mm和1.5mm通孔測定斜探頭的折射角
3)25mm測定探傷儀的水平，垂直線性和動態(tài)范圍，縱波掃描范圍和速度
4)R50和R100曲面調(diào)節(jié)探測范圍和掃描速度
5)直徑50mm，44mm和40mm三個臺階孔測定斜探頭
CSK-IA超聲波檢測試塊
超聲波標準試塊檢測 |
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1 |
本體材料化學成分 |
主要化學成分應(yīng)符合GB699 |
合格 |
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2 |
本體材料晶粒度 |
本材料經(jīng)正火處理后，晶粒度應(yīng)達到7級以上。 |
合格 |
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3 |
本材料內(nèi)部缺陷 |
使用5MHZ直探頭，對試塊進行接觸法超聲波探傷，不得出現(xiàn)大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。 |
合格 |
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4 |
折射角度偏差 |
使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測時,不得超出±2度 |
合格 |
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5 |
有機玻璃鑲嵌件縱波傳播時間 |
長溫下,有機玻璃23mm厚度縱波傳播時間相當與20(45)號鋼50mm厚度的縱波時間 |
合格 |
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6 |
R100圓弧面中心位置偏差 |
使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出±0.5mm |
合格 |
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7 |
R100圓弧面回波幅度偏差 |
使用2.5MHZ和 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出1.5dB |
合格 |
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8 |
外觀及表面粗糙度 |
外觀光滑無明顯劃傷,碰傷,銹蝕等缺陷,表面粗糙度探測面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3 |
合格 |
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9 |
幾何尺寸,行位公差 |
尺寸.公差±0.1 |
合格 |
