- 原產(chǎn)地：日本
Inspect系列掃描電子顯微鏡(SEM)采用先進(jìn)的樣品室真空技術(shù)以及FEI的世界一流電子光學(xué)和樣品生產(chǎn)量技術(shù)。只要檢驗、表征、工藝控制和 失效分析至關(guān)重要，則Inspect S50和Inspect F50型顯微鏡的高分辨率成像必不可少。
? 易用且直觀的軟件可確保初學(xué)者也能進(jìn)行高效操作。
? 輕松表征導(dǎo)電和絕緣樣品。
? 使樣品制備數(shù)量降至:低真空可實現(xiàn)絕緣樣品的非荷電成像和分析。
? 確保在高真空和低真空條件下進(jìn)行準(zhǔn)確的導(dǎo)電和絕緣樣品EDS和EBSD分析， 使用“經(jīng)由透鏡”抽氣技術(shù)創(chuàng)造高真空和低真空環(huán)境,
? 易用且直觀的軟件可確保初學(xué)者也能進(jìn)行高效操作。
? 輕松表征導(dǎo)電和絕緣樣品。
? 使樣品制備數(shù)量降至:低真空可實現(xiàn)絕緣樣品的非荷電成像和分析。
? 確保在高真空和低真空條件下進(jìn)行準(zhǔn)確的導(dǎo)電和絕緣樣品EDS和EBSD分析， 使用“經(jīng)由透鏡”抽氣技術(shù)創(chuàng)造高真空和低真空環(huán)境,
