HT 系列高解析度X光無損探傷儀主要使用于BGA、CSP、flip chip、半導(dǎo)內(nèi)部以及多層電路板的質(zhì)量檢測，并能快捷清晰地檢測電路板的焊接情況，特別適用生產(chǎn)過程的質(zhì)量檢測和返修后的質(zhì)量檢測。HT包括一個基于Microsoft Windows系統(tǒng)平臺的工作臺（HT -1000），并配有圖像多樣采集功能，能夠做到圖像同步采集與分析。HT光機完全體現(xiàn)了ELT設(shè)計的理念，高度靈活的通用系統(tǒng)，滿足各種應(yīng)用要求，快速獲得高分辨率檢測結(jié)果，使用簡單，設(shè)計完美。
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