HN-6060— 尼康劃時代的非接觸式 3D 測量系統(tǒng)，采用了尼康新的多傳感器測量技術(shù)，配備了新型高激光掃描系統(tǒng)，是尼康先進的光學(xué)和圖像處理技術(shù)的完美結(jié)合。作為新一代的測量系統(tǒng)，HN-6060 可廣泛應(yīng)用于提高生產(chǎn)工藝、確保產(chǎn)品質(zhì)量。

    HN-6060 非接觸式多傳感器 3D 測量系統(tǒng)實現(xiàn)了對復(fù)雜組件表面形狀的自動檢測。本系統(tǒng)由一個雙軸轉(zhuǎn)臺和一臺 3 軸都采用高鋼性空氣軸承系統(tǒng)的三坐標(biāo)測量機構(gòu)成，采用了驅(qū)動系統(tǒng)及其控制機構(gòu)的 5 軸同步技術(shù),  并為獲得更高的穩(wěn)定性作了專門優(yōu)化。此外，由于采用了尼康擁有的低熱膨脹光柵技術(shù)和能夠限度減少 Abbé 錯誤的優(yōu)化設(shè)計，這款高 3D 測量儀器的可達 1.5+4L/1000 μm。

     HN-6060 配備了新開發(fā)的高速、高激光掃描系統(tǒng)和 SFF（對焦尋形）傳感器，即使對于表面光滑或者沒有表面紋理的物體也可通過活動紋理投影對其形狀進行高測量。再加上接觸式探針和內(nèi)置 TTL 激光 AF 功能、已成功應(yīng)用于尼康的 NEXIV-VMR系列CNC 影像測量系統(tǒng)的光學(xué)頭，構(gòu)成完整的多傳感器測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)配備的各種傳感器可實現(xiàn)對復(fù)雜的汽車和機械加工組件、注模部件、醫(yī)學(xué)設(shè)備部件等形狀各異的物體進行測量。

HN-6060 的主要特點

1 對3D 組件的形狀尺寸進行高的經(jīng)過優(yōu)化的目標(biāo)找準(zhǔn)和測量

        尼康將先進的光學(xué)和硬件控制技術(shù)結(jié)合在一起，成功開發(fā)了高的并能夠以120,000點/秒的采樣速度實現(xiàn)大范圍點云測量的激光掃描系統(tǒng)。經(jīng)實際應(yīng)用證明，HN-6060 在表面形狀的對比檢測（被測組件與對應(yīng)的 3D CAD 模塊之間的對比檢測）和逆向工程等方面具有卓越的性能。

2 使用增強的多傳感器技術(shù)，檢測形狀時無需手動準(zhǔn)備樣本

        憑借新型的激光掃描系統(tǒng)、SFF 和接觸式傳感器以及五軸硬件控制，該系統(tǒng)可以對組件進行多種高檢測，并可滿足點云自動匯集處理的需求。該系統(tǒng)還可以在無需手動準(zhǔn)備（例如在檢測時在目標(biāo)上使用粉末）的情況下對過去難以測量的黑色注模組件和帶有光滑表面的形狀進行高、非接觸式 3D 檢測。

3 用于高測量的五軸同步硬件控制

        除了由線性馬達驅(qū)動的新型高直角三軸驅(qū)動系統(tǒng)以外，該系統(tǒng)還配備了高 2 軸轉(zhuǎn)臺。5 軸同步技術(shù)的應(yīng)用使HC-6060 非常適合齒輪測量，檢測時傳感器始終以的垂直角度進行采樣和檢測點云。

4 采用在固定視點下的五軸操作控制（可輕松采集被測表面點云數(shù)據(jù)）以及模擬運行模式等人性化設(shè)計，操作極其方便。

        該系統(tǒng)的設(shè)計充分考慮了用戶的安全和操作的便利（例如，可輕松實現(xiàn) 3D 點云數(shù)據(jù)采集的固定視點操縱桿和防撞模擬功能），將非接觸式形狀檢測變?yōu)楝F(xiàn)實。

5 HN Metrology 3D — 多功能 3D 測量軟件

        新開發(fā)的 HN Metrology 3D 軟件基于已獲市場肯定的尼康 NEXIV VMR 系列的尺寸檢測軟件發(fā)展而來，代表了多傳感器測量軟件研發(fā)的新成果。用戶可輕松操作這款功能強大的軟件實現(xiàn)各種功能，如：參數(shù)設(shè)置、教學(xué)編程、形狀測量，實測數(shù)據(jù)與 3D CAD數(shù)據(jù)的比對及輸出等。

6 焦點點云檢測和數(shù)據(jù)分析軟件（選購）

        這款重點檢測（可選購）軟件可實現(xiàn) 3D CAD 模塊參照點與實測數(shù)據(jù)的誤差比對并能生成由高點云及其對應(yīng)數(shù)據(jù)構(gòu)成的詳細。此外，點云還能被應(yīng)用于逆向工程。 

主要規(guī)格

三軸行程             600 mm × 600 mm × 600 mm

(X × Y × Z)        (24” × 24” × 24”)

軸向             允許的誤差 EMPE：1.5+4L/1000um

                     ※ ISO10360-2, JIS7440-2: 2003

                     總 5 μm（ES、MPE）–

高激光掃描測頭   球面間隔測量允許的誤差

                     ※　JIS B 7441：2009

                     待測件的直徑（φ） 300 mm

雙軸轉(zhuǎn)臺             待測件的高度（H） 200 mm

                     待測件的重量 20 kg

主機的尺寸          1850mm(寬)×1540mm(深)×2650mm(高)

主機的重量          2600 kg

工作距離(傳感器到

物體表面的距離)      50 mm