- 產(chǎn)品品牌：
- 鄭州匯科
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 集成電路測(cè)試儀ICT33C+ 可測(cè)模擬IC
1．工作原理：prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office"
ICT33c+集成電路測(cè)試儀是以器件預(yù)期響應(yīng)法為指導(dǎo)思想，以單片機(jī)智能化為結(jié)構(gòu)的多功能測(cè)試儀器。它以MCS51單片機(jī)為，配合大規(guī)模軟件和外圍擴(kuò)展系統(tǒng)來全面模擬被測(cè)器件的綜合功能。儀器的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)立足于這樣的原則：在數(shù)字集成電路眾多參數(shù)中，邏輯功能是重要，根本，能說明問題的參數(shù)。
2．系統(tǒng)主要構(gòu)成：
（1） CPU：MCS51系列產(chǎn)品89C52；主頻：11.059M。
（2） 程序存儲(chǔ)器：128K EPROM。
（3） RAM緩沖區(qū)：128K靜態(tài)RAM。
（4） 顯示器：8位液晶顯示器。
（5） 操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。
（6） 輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
（7） 機(jī)箱：全塑結(jié)構(gòu)機(jī)箱。
3．主要參數(shù)：
（1） 電源電壓：AC220V±15%，50HZ。
（2） 整機(jī)功耗：15VA。
（3） 測(cè)試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4） 編程電壓：12.5V，21V。
（5） 測(cè)試腳數(shù)：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購(gòu)適配器）。
（6） 型號(hào)輸入位數(shù)：3——6位。
（7） 適用溫度：0——40℃。
（8） 測(cè)試規(guī)范：輸入短路測(cè)試；輸出短路測(cè)試；100%功能測(cè)試。
（9） 輸出高電平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
（10） 輸出低電平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
（11） 輸入高電平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
（12） 輸入低電平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。
4.功能綜述
（1） 器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判別其邏輯功能好壞。
（2） 器件型號(hào)識(shí)別：當(dāng)不知被測(cè)器件的型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號(hào)。
（3） 器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
（4） 器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。
（5） 內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改：儀器可對(duì)內(nèi)部緩沖區(qū)進(jìn)行多種編輯。
（6） 微機(jī)通訊：儀器可通過串行口接受來自微機(jī)的數(shù)據(jù)或?qū)?nèi)部RAM緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)傳送到微機(jī)。
（7） ROM器件讀入：儀器可將128K以內(nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。
（8） ROM器件寫入：儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫入到128K以內(nèi)的ROM器件中。
5．適用范圍
ICT33C+具有以下主要用途：
（1） 維修各類電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。
（2） 破譯被抹去型號(hào)集成電路的真實(shí)型號(hào)。
（3） 燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。
（4） 開發(fā)各類智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。
（5） 檢驗(yàn)新購(gòu)器件的質(zhì)量。
6．測(cè)試容量
ICT33C+可測(cè)器件包含以下各大系列：
（1） TTL74、54系列。
（2） TTL75、55系列。
（3） CMOS40、45、14系列。
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