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深圳市鴻信測量儀器有限公司

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日本日置HIOKI3532-50 LCR測試儀說明：LCR測試儀 3532-50元器件測量,LCR測試儀 3532-50搭配寬幅測試頻率的阻抗測試儀,HIOKI3532-50 LCR測試儀測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整,可很容易地測試被測物在高頻量程內(nèi)的特性。HIOKI3532-50 LCR測試儀操作非常簡便，改變設(shè)置時通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項會順序排列顯示出來,LCR測試儀 3532-50基本參數(shù)

日本日置HIOKI3532-50 LCR測試儀/HIOKI 3532-50LCR測試儀的詳細介紹

日本日置HIOKI3532-50 LCR測試儀說明：

LCR測試儀3532-50元器件測量
LCR測試儀3532-50搭配寬幅測試頻率的阻抗測試儀
測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整
可很容易地測試被測物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡便，改變設(shè)置時通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項會順序排列顯示出來
LCR測試儀 3532-50基本參數(shù)

測量參數(shù)	│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
測量方法	測量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA (1MHz～5MHz)，或恒壓10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz) 檢測：電壓，AC
測量頻率	42Hz～5MHz
測量量程	│Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(視條件而定) θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999 Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S
基本	│Z│: ± 0.08% rdg.，θ: ± 0.05°
測量時間│Z│的典型值	快速：5ms～慢速2：140ms
顯示	顯示值99999，LCD背光功能
比較器功能	設(shè)定：上、下限值，百分比或值輸出：3檔（高，中，低），開路集電極，絕緣
外部打印	9442 （與9443/9446/9593-01同時使用）
電源供應(yīng)	100～240V AC 50/60Hz
體積及重量	352寬 &time; 124高 &time; 323厚mm，6.5kg
附件	電源線（1），保險絲（1）