- 產(chǎn)品品牌：
- 華通檢測(cè)
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 濕度試驗(yàn)
主要應(yīng)用于考核電工，電子產(chǎn)品在恒定濕熱環(huán)境下的儲(chǔ)存和（或）使用的適應(yīng)性
濕度對(duì)產(chǎn)品的影響:
1、潮濕環(huán)境可以引起材料的機(jī)械性能和化學(xué)性能的變化，如體膨脹、機(jī)械強(qiáng)度降低等；
2、由于吸潮，使密封產(chǎn)品的密封性能降低或遭破壞、產(chǎn)品表面涂敷層剝落、產(chǎn)品標(biāo)記模糊不清等；
3、由于凝露和吸附作用，使絕緣材料的表面絕緣電阻下降；
4、由于水分的吸收和擴(kuò)散作用，使絕緣材料的體積電阻下降，從而產(chǎn)生漏電流；
5、對(duì)于整機(jī)設(shè)備，將會(huì)導(dǎo)致靈敏度降低、頻率漂移等；
6、濕熱的腐蝕作用是由于空氣中含有少量的酸、堿性雜質(zhì)，或由于產(chǎn)品表面附著如焊渣、汗?jié)n等污染物質(zhì)而引起間接的化學(xué)和電化學(xué)腐蝕作用；
7、對(duì)于不同的金屬材料、金屬和非金屬材料之間，即使在沒(méi)有污染物質(zhì)存在的條件下，只要有適宜的濕度條件或有凝露，由于化學(xué)或電化學(xué)作用的結(jié)果，也會(huì)引起不同程度的腐蝕。
濕度試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
2、GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)
3、GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)
4、GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
5、IEC 60068-2-78:2001
6、GJB150.9-86
我公司可靠性實(shí)驗(yàn)室提供多臺(tái)不同尺寸的常規(guī)恒溫恒濕箱體與步入式恒溫恒濕箱，根據(jù)不同類(lèi)型的產(chǎn)品，提供測(cè)試服務(wù)。
