測(cè)試部位產(chǎn)生的顆粒散射光,在達(dá)到散射光接收器D前,會(huì)受到沿途樣品顆粒的干擾而增加信號(hào)噪聲。
因容器半徑或尺寸較大,入射激光在到達(dá)樣品池H中心的測(cè)試區(qū)域途中,被液體中的顆粒阻擋和散射,從而減小光的強(qiáng)度和降低光源的光質(zhì)。
納米儀器采用智能自相關(guān)器,在測(cè)試中可以全自動(dòng)測(cè)試,自動(dòng)選擇測(cè)試參數(shù)(如通道數(shù)、延時(shí)時(shí)間等),使測(cè)試達(dá)到的和重復(fù)穩(wěn)定性。而且軟件功能齊全。
可對(duì)單分散和多分散顆粒體系進(jìn)行測(cè)試。有全自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)試方式,可任意選擇。108級(jí)粒級(jí)的表格和曲線表示。測(cè)試的時(shí)間可在10~180秒內(nèi)部任選,可自動(dòng)反復(fù)多次測(cè)試。結(jié)果可以單次、多次平均、中值平均等多種方式顯示。
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