產(chǎn)品品牌：

UV762雙光束紫外可見分光光度計

產(chǎn)品型號：

UV762

該產(chǎn)品是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計。采用了全新的光學系統(tǒng)設計、微機控制和處理數(shù)據(jù)、大屏幕LCD中文窗顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數(shù)據(jù)。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和度高；光譜數(shù)據(jù)處理功能強；采用中文人機對話、操作方便；儀器外形美觀大方。  
特點介紹 
●全新的光學系統(tǒng)設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光和噪聲低，測光度和穩(wěn)定可靠性高。 
●獨特的氘燈和鎢燈安裝 、光源自動切換及自動尋找位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。 
●優(yōu)良的軟件設計和編制，使儀器有較強的光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜、多波長（1-3λ）測定、動力學測定、1-3次曲線擬合、1-4階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。 
●采用大屏幕中文窗口顯示、具有良好的人機對話界面。
技術(shù)參數(shù)  波長范圍：200nm～1100nm  · 光譜帶寬：2nm  · 波長準確度：≤±0.3nm(開機自動校正)  · 波長重復性：≤0.2nm  · 透射比準確度：±0.5%(T)  · 透射比重復性：0.2%(T)  · 透射比測量范圍：0～200%T  · 吸光度測量范圍：-0.301～3.000A  · 雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定)  · 漂移：≤0.004A/H （500nm處）  · 噪聲：100%線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T  · 掃描速度：快  中  慢