- 品牌/商標(biāo)：美國(guó)奧林巴斯（原美國(guó)泛美）
- 企業(yè)類(lèi)型：貿(mào)易商
探頭選擇
 | 接觸式探頭：接觸式探頭是一個(gè)通?？缮煽v波且與被測(cè)樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式 探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級(jí)防磨效果，可以延長(zhǎng)探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù) 金屬的的聲阻抗。請(qǐng)參閱第8頁(yè)了解有關(guān)縱波接觸式探頭的更詳細(xì)情況，還可參閱第17頁(yè)了解 有關(guān)垂直入射橫波探頭的信息。 |
 | 雙晶探頭：雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于 同一個(gè)外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底 面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測(cè)嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而 且還可用于高溫環(huán)境。參閱第10頁(yè)了解有關(guān)用于探傷的雙晶探頭的更詳細(xì)情況，還可參閱第30頁(yè) 了解有關(guān)與Olympus NDT腐蝕測(cè)厚儀一起使用的雙晶探頭的更詳細(xì)情況。 |
 | 延遲塊探頭：延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測(cè)量更薄的材料厚度，并能提供更的厚度測(cè)量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。要了解有關(guān)延遲塊探頭及延遲塊探頭選項(xiàng)的更詳細(xì)信息，請(qǐng)參閱第18頁(yè)。 |
 | 角度聲束探頭：角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無(wú)法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行 檢測(cè)。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測(cè)，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無(wú)法到達(dá)希望檢測(cè)的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào)。 請(qǐng)參閱第12頁(yè)，了解角度聲束探頭和楔塊的其它信息。 |
 | 保護(hù)面探頭：保護(hù)面探頭為一種帶有螺紋外殼護(hù)套的單晶縱波探頭，可以安裝延遲塊、防磨帽或保護(hù)膜。這個(gè)特點(diǎn)極大地增強(qiáng)了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應(yīng)用中。 保護(hù)面探頭還可用作直接接觸式探頭，檢測(cè)橡膠或塑料等低阻抗材料，以改進(jìn)聲阻抗的匹配效果。請(qǐng)參閱第20頁(yè)，了解保護(hù)面探頭及其可選項(xiàng)的更詳細(xì)信息。 |
 | 水浸探頭：水浸探頭為單晶縱波探頭，其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼 中，在與防水線纜一起使用時(shí)，可以完全浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲 塊，因此針對(duì)必須對(duì)工件施行持續(xù)耦合的掃查應(yīng)用來(lái)說(shuō)，這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭 還有一個(gè)附加選項(xiàng)，即可以通過(guò)增加特定區(qū)域的聲強(qiáng)同時(shí)減少聲束焦點(diǎn)大小的方式將聲束聚焦。 要了解有關(guān)水浸探頭更多的信息，請(qǐng)參閱第22頁(yè)。 |
 | 高頻探頭：高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225 MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對(duì)厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測(cè)量（取決 于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對(duì)硅制微型芯片等具有低衰減性 的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測(cè)應(yīng)用的理想探頭。要了解有關(guān)高頻探頭的更詳細(xì)信息，請(qǐng)參閱第28頁(yè)。 |
