- 產(chǎn)品型號：
- SunScan
SunScan 作物冠層分析系統(tǒng) 用途： 通過測量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。 原理： 根據(jù)冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)。 產(chǎn)地： 英國
