- 產(chǎn)品品牌：
- 環(huán)宇
- 產(chǎn)品型號：
- TX220
- 測量范圍：
- 0~50um
TX220型X熒光測厚儀
應用范圍
鍍層測厚分析、電鍍液離子濃度分析。適用于電鍍、真空鍍、離子鍍的X熒光測厚儀。
鋼鐵、有色金屬、塑膠、廢舊原料回收元素分析
性能指標
可測鍍層： 多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機薄膜
鍍層種類： 單金屬、合金、無機薄膜
： 可達0.01um
厚度相對誤差： 單層5%，多層10%
厚度范圍： 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
小測量直徑： 2mm
分析時間： 20～100S
技術(shù)參數(shù)
探測器： 正比計數(shù)器
X光管： 鎢（W）靶，電壓50kV，電流1mA
高壓電源： 精密X射線專用電源，輸出電壓50kV
濾光片： 6組濾光片電動切換，有效降低背景干擾
準直器： 直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動切換
對焦系統(tǒng)： 旋鈕視覺對焦
樣品腔： 大氣
樣品觀察： 高清晰彩色CCD射線頭
X射線防護： 三重X射線防護（樣品腔、機殼、程序控制）
輸入電壓： AC 220V/50HZ
功耗： 260W
樣品腔尺寸： 660×400×135mm
外型尺寸： 680×460×475mm
重量： 40Kg
