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德國(guó)VisitecL德國(guó)大試樣掃描電子顯微鏡
德國(guó)VisitecL德國(guó)大試樣掃描電子顯微鏡
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德國(guó)VisitecL德國(guó)大試樣掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品價(jià)格:
電議
產(chǎn)品型號(hào):
LC-SEM MIRA
供應(yīng)商等級(jí):
企業(yè)未認(rèn)證
經(jīng)營(yíng)模式:
工廠
企業(yè)名稱:
北京科斯儀器有限公司
所屬地區(qū):
發(fā)布時(shí)間:
2013/3/18 14:43:29

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北京科斯儀器有限公司

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經(jīng)營(yíng)模式:工廠

主營(yíng)產(chǎn)品:大試樣掃描電子顯微鏡,焊接訓(xùn)練模擬器,光譜儀,手持式三維掃描儀,電化學(xué)工作站,電池測(cè)試系統(tǒng),電磁輻射暴露評(píng)估系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號(hào):
LC-SEM MIRA
類型:
電子顯微鏡

  超大試樣室掃描電子顯微鏡 (LC-SEM) MIRA超大試樣室掃描電鏡(LC-SEM)。作為世界上的一種掃描電鏡,自從推出后,已得到廣泛應(yīng)用??梢匝b備多種不同的探測(cè)設(shè)備來滿足不同的需求。不僅可以檢查大型零部件的物理特性,還可以評(píng)價(jià)原材料的化學(xué)和結(jié)晶體特性。幾乎對(duì)任何樣本都可實(shí)現(xiàn)非常準(zhǔn)確的,直到在分子層面的一站式檢查和分析。       使用通常掃描電子顯微鏡時(shí),在材料科學(xué)中面臨挑戰(zhàn)之一是被測(cè)樣品的大小限制。通常情況下,只能對(duì)直徑在數(shù)十到一百毫米內(nèi)小的樣本進(jìn)行研究。這限制了這一重要測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用。LC-SEM克服了這一點(diǎn),其超大真空室和光學(xué)系統(tǒng)擴(kuò)展視圖功能可容納直徑與高度分別達(dá)1500mm,重300kg的樣品。從一粒沙子到一個(gè)柴油發(fā)動(dòng)機(jī)大小的樣品,不必切小,僅用一臺(tái)儀器就可以做全面的檢查。其足夠大的空間還可進(jìn)行原位觀察,實(shí)現(xiàn)零部件疲勞、磨損等非破壞性試驗(yàn)研究。   LC-SEM 真空室和真空系統(tǒng)  

   LC-SEM試樣室有 3 m3、9 m3、12 m3 三種型號(hào),可觀察試樣尺寸:直徑1500毫米、高度1500毫米。真空系統(tǒng)裝配有強(qiáng)大的三個(gè)真空泵:旋片和轉(zhuǎn)子泵應(yīng)用于低真空,渦輪增壓泵應(yīng)用于高真空,可實(shí)現(xiàn) 10 -6  mbar的高真空。該系統(tǒng)有足夠的能力,除去腔室中試樣的氣體,在45分鐘內(nèi)便可以實(shí)現(xiàn)所需的真空度。腔室設(shè)置有多層墻體保證了不受任何外部磁場(chǎng)的影響。
 

                      獨(dú)特的定位系統(tǒng)      當(dāng)一個(gè)人觀察一個(gè)小的對(duì)象時(shí),會(huì)在手中扭轉(zhuǎn)對(duì)象,人眼-可視化系統(tǒng)是固定的。當(dāng)觀察一個(gè)更大的物體時(shí),人會(huì)在物體周圍左右移動(dòng),以便完全觀察它。種情況是類似于標(biāo)準(zhǔn)SEM的情況,而后者則反映了LC - SEM的情況。 LC -SEM 配備了定位系統(tǒng),配備有一個(gè)5 +1旋轉(zhuǎn)軸系統(tǒng),電子搶、相機(jī)和各種探測(cè)器都懸掛在旋轉(zhuǎn)軸上,初是利用遠(yuǎn)程控制來調(diào)整軸的角度和高度,使柱體的位置相對(duì)迅速接近樣品的重點(diǎn)區(qū)域,再通過計(jì)算機(jī)控制移動(dòng)電子槍和探測(cè)器以及完整的光學(xué)系統(tǒng),可以滿足從不同角度的視角觀察。在研究過程中,還可以進(jìn)行修改以便優(yōu)化信號(hào)接收。并且還可以移動(dòng)試樣,這樣極大地減少了試樣裝載次數(shù)。     四個(gè)電腦顯示器通過探測(cè)器跟蹤柱和樣品的運(yùn)動(dòng)以及觀察試樣表面特性和分析化學(xué)信息,軟件、電氣和機(jī)械接口通過一個(gè)單一的終端控制。   成像和分析系統(tǒng) 通過裝備鎢絲電子槍,LC-SEM有能力提供高于10nm的分辨率和高達(dá)30萬倍的圖像放大能力,加上強(qiáng)大的二次反射電鏡的通道倍增探測(cè)器,整個(gè)系統(tǒng)通過多個(gè)運(yùn)行系統(tǒng)保證圖像的質(zhì)量。阻尼系統(tǒng)可以防止外部振動(dòng)影響系統(tǒng),同時(shí)電子槍和探測(cè)器有一個(gè)創(chuàng)新的冷卻循環(huán)系統(tǒng)。LC-SEM 和它的所有部件都采用100%的計(jì)算機(jī)控制,其系統(tǒng)全部使用Microsoft Windows ®的軟件設(shè)計(jì)。 通過分析系統(tǒng)的集成,在腔室的真空環(huán)境下,通過能量發(fā)散X射線光譜儀(EDS)和電子背散射衍射系統(tǒng)(EBSD),LC-SEM 擁有生成完整的測(cè)試結(jié)果的能力。LC-SEM 也可以配置聚焦離子束(FIB)和傅立葉變換紅外光譜儀(FT - IR)實(shí)現(xiàn)其擴(kuò)展功能。LC-SEM的可變壓力方式還可以讓工程師和科學(xué)家做傳導(dǎo)和絕緣樣本的臨界面特性研究,包括金屬、陶瓷和金屬間化合物。   更多:LC-SEM產(chǎn)品及應(yīng)用圖片   原 位 觀 測(cè)   除了研究大樣本, LC–SEM還可應(yīng)用于在材料的變形行為的原位觀測(cè)以及在微系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域生產(chǎn)過程的現(xiàn)場(chǎng)觀測(cè)控制中。LC–SEM 也可以通過 “中斷監(jiān)控” 實(shí)現(xiàn)較大的工程部件的無損檢測(cè)實(shí)驗(yàn)。例如,測(cè)試高壓泵的高負(fù)荷部件的摩擦特性,可以通過進(jìn)行中斷監(jiān)控來研究。這些部件在正常工作一段時(shí)期后,可在 LC-SEM 中觀察研究,之后可以再立即工作,從而得到不同使用階段的摩擦特性。這種監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的方式將打開一個(gè)全新的、廣闊的工程應(yīng)用領(lǐng)域,使得我們能夠獲得更直接、更詳細(xì)的對(duì)磨合和破壞過程的了解。

 

  在LC-SEM內(nèi)的疲勞試驗(yàn)    為了滿足評(píng)估原位變形特性研究的需要,將一個(gè)機(jī)械液壓疲勞試驗(yàn)機(jī)融入到了腔室中,可以在LC - SEM中執(zhí)行疲勞測(cè)試。 在這種聯(lián)合測(cè)試中,不僅能確定材料過載臨界點(diǎn),而且裂紋的生成與擴(kuò)展也能被觀察和研究,晶體材料的特性能在執(zhí)行疲勞試驗(yàn)后進(jìn)行研究,由此顯微鏡轉(zhuǎn)換成了一個(gè)完整的測(cè)試設(shè)備,能提供完整的測(cè)試結(jié)果。該系統(tǒng)能使研究人員記錄材料裂紋聚集之前的結(jié)構(gòu)變化,同時(shí)能夠觀察微觀結(jié)構(gòu)對(duì)初期裂紋形成與擴(kuò)展的影響。該系統(tǒng)還設(shè)計(jì)有一個(gè)節(jié)點(diǎn)控制機(jī)制,允許感興趣的點(diǎn)始終留在視野當(dāng)中。本機(jī)的優(yōu)異的穩(wěn)定性,能夠極大地改善疲勞、開裂現(xiàn)象的原位研究。           應(yīng)用實(shí)例:美國(guó)田納西大學(xué)--應(yīng)用LC-SEM的疲勞試驗(yàn)      

 

 


 

              應(yīng)用行業(yè)  
  •        材料科學(xué)  

  •        航空、航天

  •         軍事與國(guó)防

  •     汽車

  •         文化與考古

  •         半導(dǎo)體和電子元件       

  •         醫(yī)藥與生物材料

  •         法醫(yī)學(xué)      

      應(yīng)用領(lǐng)域  
  •         非破壞性檢測(cè)

  •         原位分析

  •         故障分析

  •         研究與開發(fā)

           

 

 

                   

 

  

 

 

 

 

 

 


        LC-SEM   技術(shù)規(guī)格參數(shù)   

電子光學(xué)  
分辨率 優(yōu)于10納米
放大倍數(shù) 10x – 300,000x
加速電壓 0.2 – 30keV
探測(cè)器 二次反射通道倍增電子探測(cè)器 四象限背散射電子探測(cè)器
分析能力 能量色散X射線光譜儀(EDS)
  電子背散射衍射(EBSD)
附加功能 聚焦離子束(FIB)
  傅立葉變換紅外光譜儀(FT - IR)
  內(nèi)部攝像系統(tǒng)
圖像處理  
軟件 MIRA控制系統(tǒng)
硬件 個(gè)人電腦,顯示器和打印機(jī)
真空系統(tǒng)  
低真空泵 旋片泵,65立方米/ h
  旋轉(zhuǎn)式轉(zhuǎn)子泵,400立方米/小時(shí)
高真空泵 渦輪泵2400升/秒
極限真空 直至45分鐘后10-6毫巴
真空室 3 m3; 9 m3; 12 m3

                                                                       

標(biāo)本  
尺寸 高達(dá)直徑1500毫米,高度1500毫米
質(zhì)量 300 kg,
定位系統(tǒng)  
5 +1微步控制軸系統(tǒng)
重復(fù) ±50 μm
定位范圍  
X-軸 600mm, 1000mm, 1500mm
Z-軸 600mm, 1000mm, 1500mm
A-軸 90°
B-軸 135°
C-軸 360°
D-軸 350°

                 

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聯(lián)系人:
程美龍
手機(jī):
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類型:
工廠
地址:
北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)榮華南路16號(hào)中冀斯巴魯大廈1504

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