HP 4191A阻抗測(cè)試儀                    
        HP4191A阻抗測(cè)試儀1MHZ-1000MHZ
測(cè)試材料的阻抗Z，導(dǎo)納Y，電感L，電阻R,介電損耗D ,品質(zhì)因數(shù)
射頻阻抗計(jì)量器具檢定系統(tǒng)
　　Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments 　　JJG 2011-87
　　代替：高頻阻抗量值傳遞系統(tǒng)
射頻阻抗計(jì)量器具檢定系統(tǒng)
　　本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計(jì)量器具（即檢測(cè)20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材
料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件），規(guī)定了射頻（習(xí)慣上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值
溯源途徑、傳遞程序及計(jì)量器具的檢定方法。
　　       一、計(jì)量基準(zhǔn)器具
　         　1、高頻集總參數(shù)阻抗的國(guó)家計(jì)量基準(zhǔn)器具是指用于復(fù)現(xiàn)和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括
電介質(zhì)材料的復(fù)數(shù)介電常數(shù)和軟磁材料的復(fù)數(shù)導(dǎo)磁率）的計(jì)量設(shè)備和量具。
　         　2、射（高）頻集總參數(shù)阻抗計(jì)量基準(zhǔn)器具包括：
　　          2.1空氣介質(zhì)同軸線阻抗基準(zhǔn)，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經(jīng)理論計(jì)算求得。它用
校準(zhǔn)按反射系數(shù)測(cè)量原理設(shè)計(jì)的高頻阻抗精密測(cè)量裝置。空氣介質(zhì)同軸線也是微波阻抗國(guó)家基準(zhǔn)，本檢
定系統(tǒng)移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統(tǒng)一。在（1-1000）MHz頻段，其技術(shù)指標(biāo)為：
　　　　      反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±0.002；　　　　相角：±180°±0.5°。
　　        2.2高頻阻高頻阻抗精密測(cè)量裝置，它是利用從美國(guó)引進(jìn)的HP4191A高頻阻抗分析儀，經(jīng)過(guò)準(zhǔn)確度論
證分析，保證高頻集總參數(shù)阻抗量的以下計(jì)量工作性能：
　　　　    頻率：（1-1000）MHz
　　　    　反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
　　　　    相角θ：±180°±0.5°；
　　　　    阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
　　　　    電容C：10pF-100nF±(0.2-10)%;
　　　　    電感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
　　　　    損耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)
　　    二、高頻集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)
　　       3、集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)包括：
　　       3.1高頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)件50Ω，0Ω，0S。它們由國(guó)家基準(zhǔn)通過(guò)直接比對(duì)法傳遞量值，
技術(shù)特性如下：
　　　　            50Ω：｜г｜≤0.0025；　　　　
0Ω：殘余阻抗小于2mΩ；　　　　
0S：邊緣電容值0.080pF
　　     這些標(biāo)準(zhǔn)件用以校準(zhǔn)按電壓電流比原理設(shè)計(jì)的高頻阻抗分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻抗測(cè)量?jī)x
器（校準(zhǔn)中還需使用直流以和低頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)伯）。并由50Ω阻抗件組成模擬損耗件校準(zhǔn)Q值、tgδ值等
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
　        3.2高頻、低頻阻抗分析儀。這些是市售商品高準(zhǔn)確度阻抗測(cè)量?jī)x器，也用作計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，用以
定標(biāo)低準(zhǔn)確度的阻抗標(biāo)準(zhǔn)量具。其技術(shù)指標(biāo)為：
　　　　    頻率：20kHz-1000MHz；
　　　　    阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20%）；
　　　　    電容C：10pF-100nF±(0.5-20)%；
　　　　    電感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）%