- 產(chǎn)品品牌:
- SSD
- 產(chǎn)品型號:
- SSD-KB3
采用微處理器控制按鍵壽命試驗全過程。由單片機產(chǎn)生每秒 1 - 4 次擊打脈沖,經(jīng)功放推動電磁鐵,產(chǎn)生擊打運動,擊打力可通過加到電磁鐵線圈上的電壓高低控制。各擊打按鍵產(chǎn)生的有效(導(dǎo)通)信號或無效(不導(dǎo)通)信號數(shù)據(jù)被存儲芯片分別記錄下來,并可由LCD屏幕查詢顯示。每個電磁鐵的有效、無效擊打數(shù)可分別預(yù)先設(shè)定或清除,單次設(shè)定數(shù)為999999次。當(dāng)某電磁鐵的擊打試驗紀(jì)錄滿足設(shè)定條件時,面板上LED 發(fā)光管將閃爍提示 ,同時該電磁鐵停止工作,察看數(shù)據(jù)之后LED熄滅。機器停電后,現(xiàn)場數(shù)據(jù)會完整保存下來,以便通電后繼續(xù)工作。
電磁鐵擊打頭垂直行程 6 毫米,水平位置可調(diào),擊打力控制在400g以內(nèi)可調(diào)。
適用范圍
用于按鍵開關(guān)、電腦鍵盤、導(dǎo)電橡膠按鍵或同類型按鍵的壽命老化試驗。