產(chǎn)品指標:
測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層測量下限:0.003um測量上限:30-50um(以材料元素判定)測量層數(shù):10層測量用時:30-120秒探測器類型:Si-PIN電制冷 探測器分辨率:149eV高壓范圍:5-50Kv,50WX光管參數(shù):5-50Kv,50W,側(cè)窗類;光管靶材:Mo靶;濾光片:鍍層濾光片CCD觀察:260萬像素微移動范圍:XY15mm輸入電壓:AC220V,50/60Hz測試環(huán)境:非真空條件數(shù)據(jù)通訊:U2.0模式準直器:Ø0.5mm軟件方法:FlexFP-Mult工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義樣品腔:70*20mm整機重量:38kg 鍍層測厚方法:1.磁性涂層測厚法 使用磁性測厚法可測鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的非導(dǎo)磁金屬和非導(dǎo)電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。2.渦流層層測厚法 可以測量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度3.X射線熒光法 金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。 常用單位:微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)1um=39.4邁, 1um=0.04mil