XJ4810型/XJ4810A型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電掃描電路，可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應管進行配對或對管測試；可測試三端穩(wěn)壓管特性。

XJ4810

XJ-4810型半導體特性圖示儀，是一種用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并可測量其靜態(tài)參數的測試儀器。

1.1 本儀器主要由以下幾個部分組成：

1.1.1 Y軸放大器及X軸放大器。

1.1.2 階梯信號發(fā)生器

1.1.3 集電掃描發(fā)生器

1.1.4 主電源及高壓電源部分

1.2 本儀器是繼JT-1后的開發(fā)產品，它除了繼承JT-1的優(yōu)點外，作了較大改進與提 高，它與其他半導體管特性圖示儀相比，具有以下特點：

1.2.1 本儀器采用全晶體管化電路、尺寸小、重量輕。

1.2.2 增設集電雙向掃描電路及裝置，能同時觀察二管的正反向輸出特性曲線、簡化測試手續(xù)。

1.2.3 配有雙簇曲線顯示電路，對于中小功率晶體管各種參數的配對，尤為方便。

1.2.4 本儀器專為工作于小電流b晶體管測試作了，小階梯電流可達0.2μA/級

1.2.5 本儀器還專為測試二管的反向漏電流采取了適當措施，使測試的IR達20nA/div。

1.2.6 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27100場效應管配對測試臺可對國內外各種場效應對管和單管進行比較測試。

1.2.7 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27101數字集成電路電壓傳輸特性測試臺，可測試CMOS，TTL數字集成電路的電壓傳輸特性。

主要技術指標

2.1 Y軸偏轉因數

集電電流范圍（Ic）10μA/div-0.5A/div 分15檔，誤差不過&plun;3%。

二管反向漏電流（IR）0.2μA/div-5μA/div 分5檔。

2μA/div-5μA/div 誤差不過&plun;3%。

0.2μA/div、0.5μA/div、1μA/div 誤差分別不過&plun;20%、&plun;10、&plun;5%

基電流或基源電壓 0.05V/div 誤差不過&plun;3%。

外接輸入 0.05V/div 誤差不過&plun;3%。

偏轉倍率 ×0.1 誤差不過&plun;（10%+10nA）。

2.2 X軸偏轉因數

集電電壓范圍 0.05V/div—50V/div 分10檔 誤差不過&plun;3%。

基電壓范圍 0.05V/div—1V/div 分5檔 誤差不過&plun;3%。

基電流或基源電壓 0.05V/div 誤差不過&plun;3%。

外接輸入 0.05V/div 誤差不過&plun;3%。

2.3階梯信號

階梯電流范圍： 0.2μA/級-50mA/級 分17檔

1μA/級-50mA/級 誤差不過&plun;5%。

0.2μA/級、0.5μA/級 誤差不過&plun;7%。

階梯電壓范圍： 0.05V/級-1V/級 分5檔 誤差不過&plun;5%。

串聯電阻： 0、10KΩ、1MΩ 分3檔 誤差不過&plun;5%

每簇級數； 1—10連續(xù)可調

每秒級數： 200

性： 正、負 分2檔

2.4 集電掃描信號

峰值電壓與峰值電流容量：各檔級電壓連續(xù)可調，其輸出不低于下表要求（AC例外）

檔級 198V 220V 242V
0—10V 檔
0—9V 5A
0—10V 5A
0—11V 5A

0—50V 檔
0—45V 1A
0—50V 1A
0—55V 1A

0—100V 檔
0—90V 0.5A
0—100V 0.5A
0—110V 0.5A

0—500V 檔
0—450V 0.1A
0—500V 0.1A
0—550V 0.1A

功耗限制電阻0—0.5MΩ分11檔，誤差不過&plun;10%