本產(chǎn)品能夠測(cè)量并顯示電子器件或電路板的表面溫度分布,為客戶提供了一種快速探測(cè)熱點(diǎn)和熱梯度的手段。
本產(chǎn)品可以地檢測(cè)微尺度半導(dǎo)體電路的熱問(wèn)題和MEMS器件的熱問(wèn)題,可以地檢測(cè)微尺度半導(dǎo)體電路的熱問(wèn)題和MEMS器件的熱問(wèn)題。
型號(hào) | OTD-60S(開(kāi)發(fā)平臺(tái)) | OTD-60C(集成平臺(tái)) |
測(cè)量參數(shù) | ||
探測(cè)器類型 | 非制冷焦平面,像素:320*240,工作波段:8μm~14μm | |
熱靈敏度(NETD) | <0.05℃@30℃ | |
溫度范圍 | -20°~+100°C / 0°~+350°C (可自行切換) | |
測(cè)量 | +/- 2 % , +/- 2 °C | |
標(biāo)準(zhǔn)鏡頭(廣角鏡頭) | 視場(chǎng):25°x18.8° ,焦距:0.4m,空間分辨率:1.36mrad | |
顯微鏡頭(定焦鏡頭) | 分辨率:25μm,視場(chǎng):8mmx6mm\分辨率:50μm,視場(chǎng):16mmx12mm\分辨率:100μm,視場(chǎng):32mmx24mm | |
調(diào)焦方式 | 自動(dòng)或手動(dòng)(內(nèi)置馬達(dá)) | |
測(cè)量分析 | ||
熱分析軟件 | MicroOptics ResearchIR | |
幀頻選擇 | 幀頻范圍:3Hz~60Hz,可采用多種幀頻錄制/實(shí)時(shí)顯示 | |
圖像模式 | 自動(dòng)模式、小值模式、放大模式、自動(dòng)放大模式 | |
測(cè)溫區(qū)域 | 測(cè)溫點(diǎn)、測(cè)溫矩形、測(cè)溫圓\橢圓、測(cè)溫線\折線,均可移動(dòng) | |
溫度顯示 | 溫、溫、平均溫度、等溫線、溫度時(shí)間曲線、線溫分布圖等 | |
紅外圖像 | 等溫色設(shè)定、多種偽彩顯示(彩虹,鐵紅等) | |
熱點(diǎn)探測(cè) | 根據(jù)客戶需求定制開(kāi)發(fā)熱點(diǎn)探測(cè)功能,如顯示位置、報(bào)警、跟蹤等 | |
失效分析 | 根據(jù)客戶需求定制開(kāi)發(fā)失效分析認(rèn)定程序,如通過(guò)比較缺陷元件與正常元件的熱表現(xiàn),可自動(dòng)認(rèn)定缺陷元件所在位置或區(qū)域 | |
溫度校正 | 發(fā)射率校正、距離校正、大氣透過(guò)率修正、反射溫度補(bǔ)償?shù)?/td> | |
數(shù)據(jù)采集 | 錄像模式:定時(shí)觸發(fā)、手動(dòng)觸發(fā)、條件觸發(fā),快照?qǐng)D片 | |
存儲(chǔ)格式 | 圖片格式:jpg、bmp、si等,視頻格式:avi、mi、csv等 | |
輔助功能 | 溫度報(bào)警、日志功能、記錄操作等 | |
輔助平臺(tái) | ||
垂直聚焦臺(tái)(Z向) | 行程:400mm,分辨率:1um | 行程:100mm,分辨率:1um |
水平微動(dòng)臺(tái)(XY向) | 尺寸:120mm×120mm、行程:50mm,分辨率:1um | 尺寸:300mm×300mm、行程:100mm,分辨率:1um |
探針臺(tái)(XYZ向) | 行程:12mm×12mm×12mm,分辨率:2um |

