1) 編程方法：可自動(dòng)學(xué)習(xí)，可手動(dòng)編程，方便快捷！ 2) 測試方法：每個(gè)點(diǎn)輿點(diǎn)之間的開路短路測試。 3) 測試速度：0.5秒/1024點(diǎn) 4.組件測試：每一件2mS~40mS不等。(程式設(shè)定或自動(dòng)調(diào)整) 4) 電阻測試：測試範(fàn)圍：0.05 ? ~ 100M?,誤差：&plun;1~5% ,解析度: 0.005?。測試其漏插及錯(cuò)插。 5) 電容測試：1pF ~ 40mF&plun;2～5%測試漏件錯(cuò)插。 6) 電感測試：1 uH ~50H&plun;2～5%測試其漏件及錯(cuò)插。 7) 跳綫測試：0 ~50?可編程，也可設(shè)爲(wèi)自動(dòng)。測試其漏件。 8) 三極管測試：三端測試Vce飽和電壓及值，測試其反向漏件等。 9) 場效應(yīng)管：三端測試Vds,Cds＆Rd (on) 10) IC管腳開路測試： |
- 獨(dú)特之測試功能：
電解電容幷聯(lián)極反或漏件判別技術(shù)——EC Jet技術(shù)，對單獨(dú)或幷聯(lián)電解電容，任意一顆方向插反或漏件之測試，可測率100%，有專利權(quán)。
⒉測試點(diǎn)數(shù)：320點(diǎn)，可擴(kuò)充。開關(guān)板以64點(diǎn)/塊增加。
⒊開短路側(cè)測試：
1) 編程方法：可自動(dòng)學(xué)習(xí)，可手動(dòng)編程，方便快捷！
2) 測試方法：每個(gè)點(diǎn)輿點(diǎn)之間的開路短路測試。
3) 測試速度：0.5秒/1024點(diǎn)
4.組件測試：每一件2mS~40mS不等。(程式設(shè)定或自動(dòng)調(diào)整)
4) 電阻測試：測試範(fàn)圍：0.05 ? ~ 100M?,誤差：&plun;1~5% ,解析度: 0.005?。測試其漏插及錯(cuò)插。
5) 電容測試：1pF ~ 40mF&plun;2～5%測試漏件錯(cuò)插。
6) 電感測試：1 uH ~50H&plun;2～5%測試其漏件及錯(cuò)插。
7) 跳綫測試：0 ~50?可編程，也可設(shè)爲(wèi)自動(dòng)。測試其漏件。
8) 三極管測試：三端測試Vce飽和電壓及值，測試其反向漏件等。
9) 場效應(yīng)管：三端測試Vds,Cds＆Rd (on)
10) IC管腳開路測試：
- 普通測試IC其二極管特性，
- 強(qiáng)悍的空焊檢測技術(shù)
11) 多管腳原件（光藕及繼電器）測試：用四端測試其導(dǎo)通電壓或電阻。測試其反向等。
5.自動(dòng)隔離：
1) 隔離方法：可自動(dòng)隔離，可手動(dòng)隔離，任意選擇，可查看輿之相幷聯(lián)，串聯(lián)之各原件情況。
2) 隔離點(diǎn)數(shù)可達(dá)到十個(gè)之多。
6.測試夾具（氣壓型）：
1) 輸入氣壓：2Kg ~ 6Kg/c㎡,
2) 行程：170mm
3) 可測面積:500mmⅩ350mm
