儀器簡介：
DX系列衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計的，是常規(guī)分析與目的測量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。
●硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要
●高的衍射角度測量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測量結(jié)果
●高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測量
●程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，操作簡便、儀器外型更美觀
X射線衍射儀是材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測試儀器：
●未知樣品中一種和多種物相鑒定
●混合樣品中已知相定量分析
●晶體結(jié)構(gòu)解析
●規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫、低溫條件下）
●材料表面膜分析
●金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析
技術(shù)參數(shù)：
| 型號 | DX-2000 | DX2500 | DX-2700 | DX-2800 |
| 標(biāo)定功率 | 4kW | 3kW(高頻高壓控制技術(shù)） | ||
| 管電壓 | 10-60kV | |||
| 管電流 | 5-80mA | |||
| X射線管 | 玻璃管、陶瓷管、波紋陶瓷管：Cu、Fe、Co、Cr、Mo等功率2kW 金屬陶瓷管：2.4kW | |||
| 焦點尺寸 | 1×10mm或是0.4×14mm或是2×12mm | |||
| 穩(wěn)定度 | ≤0.01% | ≤0.001% | ||
| 測角儀結(jié)構(gòu) | 臥式（θ-2θ） | 立式（θ-2θ） | 樣品水平（θ-θ） | |
| 衍射圓半徑 | 185mm | 225mm | ||
| 掃描范圍 | 0-164 | θs:-3-80°、θd:-3-80°（-6-160°） | ||
| 掃描速度 | 0.0012°-70°min | |||
| 角度定位速度 | 1500°-min | |||
| 掃描方式 | θ-2θ聯(lián)動，θ、2θ單動；連續(xù)或是步進掃描 | θs/θd聯(lián)動、單動；連續(xù)、步進掃描 | ||
| 角重復(fù) | 5/10000° | |||
| 小步進角度 | 1/10000° | |||
| 探測器 | 正比（PC)或閃爍（SC) | 硅漂移探測器（SDD） | ||
| 線性計數(shù)率 | 5×105CPS（帶有漏計數(shù)補償功能） | 1×106CPS | ||
| 能量分辨率 | ≤25%（PC)、≤50%（SC) | ≤20% | ||
| 計數(shù)方式 | 微分或是積分方式、自動PHA、時間校正 | |||
| 系統(tǒng)測量穩(wěn)定度 | ≤0.01% | |||
| 散射線劑量 | ≤1μSv/h（X射線護裝置外） | |||
| 儀器綜合穩(wěn)定度 | ≤0.5% | ≤0.1% | ||
| 外形尺寸 | 1000×800×1600mm |
X射線衍射儀可以分析天然或是人工合成的無機或是材料，廣泛應(yīng)用于粘土礦物、水泥建材、環(huán)境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領(lǐng)域。
●基于θ-θ幾何光學(xué)設(shè)計，便于樣品的制備和各種附件的安裝
●金屬陶瓷X射線管的應(yīng)用，大衍射儀運行功率
●封閉正比計數(shù)器，耐用免維護
●硅漂移探測器具有的角度分辨率和能量分辨率，測量速度3
●豐富的衍射儀附件，滿足不同分析目的需要
●模塊化設(shè)計或稱即插即用組件，操作人員不需要校正光學(xué)系統(tǒng)，就能正確使用衍射儀相應(yīng)附件
光學(xué)系統(tǒng)轉(zhuǎn)換
不需要拆卸索拉狹縫體，就可以單獨更換索拉狹縫結(jié)構(gòu)。由于這一特點，不需要重新調(diào)整儀器，就可以實現(xiàn)聚焦光學(xué)系統(tǒng)和平行光學(xué)系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換。
早前聚焦法光學(xué)系統(tǒng)和平行光束法光學(xué)系統(tǒng)分別需要配置彎曲晶體單色器和平面晶體單色器，光學(xué)系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換需要對光學(xué)系統(tǒng)重新校正。采用本系統(tǒng)只要將單色器的晶體旋轉(zhuǎn)90°、更換狹縫結(jié)構(gòu)，就可以實現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換。
數(shù)據(jù)處理軟件包括以下功能
基本數(shù)據(jù)處理功能（尋峰、平滑、背景扣除、峰形擬合、峰形放大、譜圖對比、Kα1、α2剝離、衍射線條指標(biāo)化等）；
●無標(biāo)準(zhǔn)樣品快速定量分析
●晶粒尺寸測量
●晶體結(jié)構(gòu)分析（晶胞參數(shù)測量和精修）●宏觀應(yīng)力測量和微觀應(yīng)力計算；
●多重繪圖的二維和三維顯示；
●衍射峰圖群聚分析；
●衍射數(shù)據(jù)半峰寬校正曲線；
●衍射數(shù)據(jù)角度偏差校正曲線；
●基于Rietveld常規(guī)定量分析；
●使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是用戶數(shù)據(jù)庫進行物相定性分析；
●使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是ICSD數(shù)據(jù)庫進行定量分析；
DX系列衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件，具有強的分析能力
高的機械加工，使附件安裝位置的重現(xiàn)性大地，實現(xiàn)即插即用。不需要對光路進行校準(zhǔn)，只要在軟件中選定相應(yīng)的附件就可以實現(xiàn)目的測量。
多功能樣品架
隨著材料研究的深入，越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射儀進行性能分析。在測角儀上安裝多功能樣品架可以進行織構(gòu)、宏觀應(yīng)力、薄膜面內(nèi)結(jié)構(gòu)等測試，每一種測試功能都有相應(yīng)的計算軟件。
●碾軋板（鋁、鐵、銅板等）織構(gòu)測量及評價
●金屬、陶瓷等材料殘余應(yīng)力測量
●薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價
●大分子化合物取向測量
●金屬、非金屬基體上的多層膜、氧化膜、氮化膜分析
織構(gòu)使材料呈現(xiàn)各向異性，利用織構(gòu)和材料的性能、充分發(fā)揮材料性能的，是材料科學(xué)研究的重要工作之一。雖然檢測材料織構(gòu)方法很多，但是廣泛應(yīng)用的還是X射線衍射技術(shù)。
