EXF8000S貴金屬檢測儀
硬件性:集成計算機，無需再外接電腦，計算機采用高集成工控主板，多點手觸屏，操作流暢便捷；加裝自動泄漏裝置，主動性的使用人員；可貴金屬行業(yè)分析的要求，為貴金屬行業(yè)性價比的光譜儀之一。
軟件性：菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算系統；計算的打印格式多樣化，滿足客戶各種形式的打印要求。
激發(fā)源：Mo靶的X光管風冷(）
探測器：固定式半導體封氣正比計數器
高壓裝置：0～50KV(國產) 0～1mA
其它規(guī)格：
電壓：交流220V/50Hz
功率:120W
處尺寸:450mm*650mm*350mm
重量:32kg
技術指標：
分析范圍：1%～99.99%
測量時間：自適應
測量：&plun; 1000ppm～0.2%
測試環(huán)境：常溫常態(tài)
分析元素：檢測物質涵蓋貴金屬行業(yè)金屬及補口,包括黃金Au（包括K金），鉑金Pt，白銀Ag，鈀金Pd，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni等等。
X射線源：MO靶X射線光管
高壓器：0～50KV(國產) 0～1mA
操作系統:Windows2000/Me/XP
鍍層測量：
鍍層厚度范圍<30μm
測量層數：5層
測量：0.03μm
