主要特性與技術(shù)指標(biāo)
安捷倫4349B可同時(shí)對(duì)4通道多個(gè)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量，增加測(cè)試吞吐率。測(cè)量范圍1*103Ω至1x1015Ω，基本為2%，具有接觸檢查功能。
主要特性
- 測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻）、I（直流電流）、ps（表面電阻率），pv（體電阻率）。
- 測(cè)量范圍：電阻1*103Ω至1x1015Ω；電流1pA至100uA。
- 測(cè)量速度：快9.5ms的測(cè)量時(shí)間。
- 基本測(cè)量：2%。
- 4個(gè)通道，可用于多個(gè)被測(cè)件，4個(gè)通道可同時(shí)測(cè)試。
- 接觸檢查功能：可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障，2毫秒/點(diǎn)，的測(cè)試
- GPIB和處理器接口
測(cè)量速度
- 9.5ms的測(cè)量速度
更多特性
- 4個(gè)通道，可用于多個(gè)被測(cè)件
- 4個(gè)通道同時(shí)測(cè)試
- 快速接觸檢查：2毫秒/點(diǎn)
- GPIB和處理器接口
描述
Agilent 4349B增加測(cè)試吞吐率，同時(shí)對(duì)4通道電阻進(jìn)行測(cè)量。
